RF射频测试座的制作方法

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产品设计需要依靠数据，包括芯片的尺寸（长宽厚度），芯片间距，芯片的形状，芯片测试中芯片需要运行的频率，以及对应的插损，回损等数据。有些RF芯片功率较大，有可能需要提供过流需求，众所周知，测试座pogo pin过流能力小于1A，所以说芯片的电源引脚过流能力也需要考虑进去，要不然会影响芯片的火力全开的测试数据。

即 Socket + RF同轴连接器(还需要考虑到隔离)

理论的

射频测试座的话，需要定期保养，最好是每使用5000次用显微镜检查下接触探针或者RF射频连接器的情况，查看针顶部是否有污物以及针的磨损情况，保证测试座始终保持良好的测试状态。

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随着5G以及WIFI6等高速通讯标准的升级，新的RF芯片广泛应用于手机，平板等移动设备，通讯基站等通讯平台。

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RF射频测试座的需求越来越多，也越来越高，当前主要的RF芯片会用到老化测试，功能测试，以及极端环境下的特种测试，所以也对RF射频测试座提出了更为高的测试需求。