德国VXInstruments多功能测试产品及案例研究

汉通达测试

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VXInstruments测试产品

我们注于设计和生产高性能测量模块，重点在产品精度、测量速度、隔离性能方面；产品均完成 24/7；不间断测试；模块化设计的思路便于灵活满足需求；定制服务。产品总装和测试在自己的工厂完成确保产品的高质量。

PXI 产品系列

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任意波形发生器、数字化示波器               

电源测量单元（SMU）                                                     

半导体测试系统

外设模块 USB3

高功率产品系列   

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电源测量单元（SMU）

HC/HV Pulse Sources

高速数字万用表

VXInstruments半导体测试解决方案

MOSFET器件静态参数测试和动态特性测试

静态参数主要是指本身固有的，与其工作条件无关的相关参数，主要包括：门极开启  电压、门极击穿电压，集电极发射极间耐压、集电极发射极间漏电流，以及以上参数的相关特性曲线的测试。

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利用PXI/PXIe带隔离功能的数字化仪和PXI/PXIe SMU模块配合HC电源设备实现IGBT半导体器件功能测试、特性曲线测试和器件on、off、standy状态性能测试。利用VXInstruments带隔离测试设备减少噪声信号干扰，可选通更小的量程范围，提高测试精度；降低系统中线缆以及分布地等带来的测试影响；提供更好的信号工模抑制比，可实现待测件任意点间的信号测量。

VXInstruments汽车电子VRS仿真解决方案

VRS（可变磁阻传感器），把发动机的转速信号转变为频率信号和幅度信号（某型号VRS传感器在齿轮转速是3km/h时，输出信号幅值1v，频率31Hz，当转速是100km/h时，输出信号幅值7v，频率1037Hz ），可仿真这类传感器来验证控制器单元设备各项指标功能。

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此应用可替代真实传感器，可在不同系统间重复利用，不需要真实传感器工作的环境； 可避免测试设备和真实传感器之间的连线，使测试系统更整洁、紧凑；传感器的仿真和控制都可以利用测试系统配备的计算机控制、编程，形成整套测试软件。

结束语

我们鼓励您与我们联系，并与我们的工程团队详细讨论您的测试和测量应用。VXInstruments可以提供量身定制的测量仪器和测试系统解决方案，以满足特定的应用需求。