EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
1.EMC问题三要素EMC必须有“干扰源-耦合路径-敏感器”三要素同时存在才会出现EMC问题
, B* B! s1 g$ g9 q" m其中,EMC的耦合路径是研究的重难点1 a. i% g5 J! ?9 l7 ]
耦合路径又分为可见和不可见
( ~ A7 a) S2 X7 F; P可见:电路中实际存在的电路形成的路径,通常就是差模耦合路径
; e# @! c; E$ z U" T% s/ h![]() 不可见:由于寄生参数而引起的额外通道,通常是共模耦合路径 ![]() 2.静电测试1.静电测试的目的静电放电测试的目的是为了衡量电子产品或系统的抗静电干扰的能力。它模拟操作人或物体在接触设备时的放电、人或物体对邻近物体的放电。 2.静电放电测试方法![]()
; B& S1 {3 a( V/ N1 r* G![]()
![]()
![]() 3.电快速脉冲群![]()
' w, x3 A8 `7 c2 @1 H . D3 f3 V8 Z. D" m) U
) M$ I5 B# c. y/ \0 C
3 z" h: n; @5 \% ^. _% |0 [8 k
7 c2 q9 _6 {2 Q/ u& @6 J6 W
![]()
' ?( B) t- o9 T6 w3 p/ @) s# M4.EMC基础知识1 \4 t+ y- N8 V8 |" k
% Y/ g9 a8 ^4 @' I2 G# o# I
& C& y, d) f. j e4 Y `! Y5 p4 Q! S5 e |