TA的每日心情 | 怒
2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点
. G1 p; A& U( J$ t4 X3 V3 p3 M器件失效会存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信9 E% M, x% ^9 ]
息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的物质基础。因此，开展失效; C% i, G$ J# B1 X+ G) ?) c. Z
分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
# v% g2 H3 K- \* l: F5 O$ D度。
/ B( ]3 I1 b, n8 R" n5 | I& `失效预警及启动分析机制: s; [+ ^/ X' e, u0 l' X
失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻
" s! |9 Z$ K$ c7 D9 G底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失: R/ G2 w8 K5 O/ o7 w! G
效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而
- l5 a$ Q _+ U0 d# [! n实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。
* B4 w( n+ j/ o @) K开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器
' d c0 d% ~, _7 H3 Q2 f件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低
& z3 Y" V2 \! ?预警门限，加大失效分析的覆盖面。
- ~+ d- Q5 q9 w- z. i生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过
8 O: x; j8 g/ e2 |应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相5 E2 R4 X$ R0 K; H# ?3 }
对较高
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发表于 2021-10-21 14:50
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发表于 2021-10-22 09:28
