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Back Light ——背光法,是一种检查通孔铜壁完好与否得放大目检方法,其做法是将孔壁外的基材自某一方向上小心的予以磨薄,再利用树脂半透明的原理,从背后射入光线。假如化学铜孔壁品质完好而无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗,一旦铜壁有破洞时,则必有光点出现而被观察到,并可放大摄影存证,称为背光法,但只能看到半个孔。
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1 L8 u p% K& c. |5 [' |) BBase Material ——绝缘材料,线路在上面形成。(可以是刚性或柔性,或两者综合。它可以是不导电的或绝缘的金属板。)。1 g( d, Z. r1 N* L' F; L# C
7 u1 j; K8 ~) |+ k/ A$ sBase Material thickness ——不包括铜箔层或镀层的基材的厚度。5 ^5 i( b6 F; \+ _" j# k
1 O: Q, }- ? }, A5 @Bland Via ——导通孔仅延伸到线路板的一个表面。
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Blister ——离层的一种形式,它是在基材的两层之间或基材与铜箔之间或保护层之间局部的隆起。 Board thickness 是——指包括基材和所有在上面形成导电层在内的总厚度。
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; m, k6 x0 I4 y! f/ v4 D, u( NBonding Layer ——结合层,指多层板之胶片层 |
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