元器件的选用

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因为元器件直接决定了电源的可靠性，所以元器件的选用非常重要。元器件的失效主要集中在以下三个方面：
（1）制造质量问题
% W: }3 S* u! |0 q0 z质量问题造成的失效与工作应力无关。质量不合格的可以通过严格的检验加以剔除，在工程应用时应选用定点生产厂家的成熟产品，不允许使用没有经过认证的产品。
( d8 \) B7 S; ]' i# z. c3 v  @' C（2）元器件可靠性问题
: E! A# s: D2 L: a9 f" K/ ~* _元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下，元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等，应进行筛选试验，这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1～2个数量级，当然筛选试验代价(时间与费用)很大，但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的，研制周期也不会延长。
* e0 _" t. Q( B  q9 ^2 L5 `& j! `（3)设计问题
) F: X8 N1 \% G7 |* b# @首先是恰当地选用合适的元器件：
0 ]5 A3 v6 Y) ^) X3 |①尽量选用硅半导体器件，少用或不用锗半导体器件。
5 u1 M2 S5 s- l8 W* B  j* _②多采用集成电路，减少分立器件的数目。
7 L) k. i2 c! a+ x8 Y$ C③开关管选用MOSFET能简化驱动电路，减少损耗。
; D6 F& b3 g1 H9 d  i, n9 `3 e; ]④输出整流管尽量采用具有软恢复特性的二极管。
% i- O8 \, E' ]/ @( ^⑤应选择金属封装、陶瓷封装、玻璃封装的器件。禁止选用塑料封装的器件。
7 i7 k0 Q9 {7 _3 _& b9 W0 |⑥集成电路必须是一类品或者是符合MIL－M－38510、MIL－S－19500标准B－1以上质量等级的军品。
, Y) ?& [$ \" N/ c: i9 b⑦设计时尽量少用继电器，确有必要时应选用接触良好的密封继电器。
⑧原则上不选用电位器，必须保留的应进行固封处理。
! @8 A* t# e3 x- q⑨吸收电容器与开关管和输出整流管的距离应当很近，因流过高频电流，故易升温，所以要求这些电容器具有高频低损耗和耐高温的特性。
3 g6 I+ R! M6 j5 }+ `6 m& w! s0 u在潮湿和盐雾环境下，铝电解电容会发生外壳腐蚀、容量漂移、漏电流增大等情况，所以在舰船和潮湿环境，最好不要用铝电解电容。由于受空间粒子轰击时，电解质会分解，所以铝电解电容也不适用于航天电子设备的电源中。钽电解电容温度和频率特性较好，耐高低温，储存时间长，性能稳定可靠，但钽电解电容较重、容积比低、不耐反压、高压品种(>125V)较少、价格昂贵。

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质量问题造成的失效与工作应力无关。质量不合格的可以通过严格的检验加以剔除，在工程应用时应选用定点生产厂家的成熟产品，不允许使用没有经过认证的产品

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元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平
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