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制造IC的基础原料:晶圆切割液配方整理

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    [LV.2]偶尔看看I

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    发表于 2021-3-1 13:07 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    晶圆是制造IC的基础原料。硅晶圆的加式过程往往需要基于纯度达到99.999%的纯硅材料,这些纯硅需要被制成硅晶棒,经过照相制版、研磨、抛光、切片等程序,将多晶硅融解拉出单晶硅晶棒,然后切割成一片一片的、薄薄的硅晶圆。
    % w, u+ X) J: b/ u+ _# X9 l1 C5 s( |  x0 e& `! L  k
    基于硅晶圆可以加工制作成各种电路元件,生产有特定电性功能的集成电路产品。' u% B; e5 f9 B. F
    - _/ n2 I) I& U  v6 R
    晶圆划片是整个芯片制造工艺流程中的一道必不可少的工序。
    4 b7 S6 `  b0 I9 I, {( D4 A9 A+ {; T, M* l5 e8 W
    晶圆划片过程中,由于强机械力的作用,晶圆边沿容易出现微裂、崩边和应力集中点,晶圆表面也容易存在应力分布不均和损伤的情况,这些缺陷是造成晶圆制造中产生大量滑移线、外延层错、滑移位错、微缺陷等二次缺陷以及晶圆、芯片易破裂的重要因素。6 j" G5 @4 U& T! U- i# \

      t% l$ U2 Q' t8 `; d$ i# m0 r1 F线切割工艺中,克服线锯的晃动、提高其稳定性,对降低硅片表面损伤(尤其是是表面较粗糙的缺陷)具有重要作用,选择性能优良的线切割液是减小或避免这些问题的重要途径。
    ' ^5 l. [6 D( F6 z' H% |4 m5 @2 z5 }6 P  a9 E! B+ n  O* T
    切割液具有一些特点:
    5 w6 q1 T! ^7 ~' B0 \8 y; y
    1 u6 ^# `  Z8 g' L% s. k6 b) @它会对加工工艺指标影响比较大,主要是加工精度、效率和表面的粗糙程度。
    + M7 J- G" R( Y1 n( p
    # r& I/ q, F  `, M5 s' w- S8 o它可减少硅晶圆切割设备发生锈蚀的问题。
    ! R1 b" n6 V" J$ v3 L/ J
    , {' y/ Z, i: k  z" ?$ f3 t它有良好的低泡沫性能。2 F. ?( @0 l7 _4 n" W+ h

    ; ]2 P) R5 [9 D% a% A由于切割液能降低晶圆表面操作和机械应力,它有利于晶圆加工后续工序的进行。
    4 L0 [# |$ \: @( x5 y) J0 }( K2 D% R2 F+ i; o
    切割液有优异的润滑性能和导热性能,可以降低脆性崩裂和划伤,提高硅晶圆的成品率。
    * g% ^$ v+ P. Q$ I% Z  R$ w! k9 c) g, S: i& N( J9 j4 s5 ]
    它能减少表面碎屑和表面金属层残留。
    % Q( I# J) Q+ q2 V! A2 p$ X' K
    : m! x5 t. y' T2 |某公司开发的一款晶圆切割液,它的润滑性和切割效率高,减少了脆性崩裂、划痕、隐裂等问题,能提高硅晶圆的切割效率和成品率。
    ) {; Y6 d% j; M
    ( n4 {9 Y9 b7 [: z$ w工艺细节要求:
    1 n2 H/ J) L, X  M, d
    7 ]! ?! X% L% A使用软水配制工作液;
    7 z) g6 C7 \' A- f* Z
    ! J+ S: f5 |, V, Z- z9 x- {水稀释15~25倍使用;: [! ^2 X  H- D) ]7 Z. z

    3 f  H& B( p, N长时间使用的话,切割液的耗损量达到切割液总量的1/3~1/2时,要及时补加原液或适当浓度的新工作液;) F& y( Z$ g: y
      j7 p1 N- _/ ^3 C& P) J/ `
    参考配方:
    5 @0 q1 `" c; R9 X8 M
    , o+ D) Z4 }! j$ w+ D4 [' k( y7 `70公斤去离子水+20公斤聚醚(表面活性剂)+5公斤聚乙二醇(表面活性剂)+3公斤炔醇(润湿渗透剂)+0.2公斤封端聚醚(消泡剂)7 p2 G' |& E! w! Q
    : o6 X/ C+ j: j$ {
    75公斤去离子水+15公斤脂肪醇聚氧乙烯醚(表面活性剂)+5公斤聚丙二醇(表面活性剂)+5公斤炔醇聚氧乙烯醚(润湿渗透剂)+0.2公斤封端聚醚(消泡剂)
    & p# k) s( W5 V2 x, c  ^) j2 p, {) F
    * H. }  g3 A2 H4 E7 e. q6 I& C2 D
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2021-3-1 13:54 | 只看该作者
    可减少硅晶圆切割设备发生锈蚀的问题
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