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提高电子产品可靠性主要是指提高其固有可靠性,入手点在于源头设计和制造过程,主要措施需根据影响可靠性的相关因素制定,包括元器件的品质选择、结构及电路的设计、组装工艺的选择等方面。- T5 s- k! Z( h1 M' O ^- f5 N- i
1.可靠性设计: z9 r" v8 G2 j6 A' H H
提高产品可靠性的措施,在设计层面主要包括以下几个方面:
. x$ e! r2 u8 u9 o- j- Z/ R; \(1)可靠性预计
+ ^. |9 t0 t3 G. i可靠性预计属于设计层面的措施,是指针对产品的可靠性要求,在总体设计阶段对可靠性指标进行预先分解和评估,从而可为后续设计工作的顺利开展打下基础。0 X; R: Q) q) }: h
进行可靠性预计,应注意以下要求。# l! r6 C, W& q3 b0 f* k
① 应根据所选用的电路形式、可靠性结构模型、元器件、工作环境及以前积累的数据,对电子产品的可靠性进行预计分析,以便提前采取措施,对这类产品在未来应用中可能发生的故障进行科学应对。
/ Q- E% E( |" J) X' \1 X7 ^9 d( e② 设计人员应给予电子产品可靠性预计足够的重视,并将相应的预计分析工作落实到位,确保这类产品可靠性预计的有效性。
% G- b# O! I- W# G0 k(2)电子元器件的合理选用
* N# k; I% h0 K0 c; l! Y7 n# ]" j对于电子产品而言,元器件的可靠性水平决定了整机的可靠性程度。电子产品可靠性设计工作的开展中,需要重视实践中与之相关的电子元器件的合理选用,从而满足其可靠性设计要求。' W. b8 O: Q# k" J! M0 J
电子元器件选用应注意以下要求。. M$ }4 ~2 ` D$ e
① 应综合考虑电路性能、运行环境、成本控制等要素,选择满足使用要求且性价比良好的电子元器件,为电子产品可靠性设计方案的形成提供支持。6 x) v/ {; Z+ \0 @( r5 \" W
② 在电子元器件的选用过程中,需要对不同类型的元器件进行对比分析,确定电子产品所需的最佳电子元器件。# R" \* l1 a0 Y# y6 n5 }2 c# L
③ 应对设计过程中选用电子元器件的实际应用效果进行科学评估,以确保这类元器件在电子产品应用中有良好的适用性。( \, s! v( L! l3 A0 p
④ 元器件降额使用。元器件选型过程中,通常将电子元器件的工作应力适度降低,低于规定的额定值,从而降低元器件的基本故障率。“降额设计”是降低基本故障率的常用手段,在最佳降额范围内,采取Ⅰ级、Ⅱ级、Ⅲ级降额等级,可实现可靠性提高和成本控制的最优方案。
- |' ?/ \/ q0 z8 f1 q9 d& ^) j(3)热设计
) p1 o$ b; ~7 L6 A3 @) Z现代电子产品中元器件密度不断增大,元器件之间通过传导、辐射和对流产生大量的热耦合,热应力成为影响电子产品可靠性的重要因素之一。因此,需要对电子产品进行合理的热设计,以确保在其设计方案作用下的电子产品能够处于良好的应用模式。
" L/ o6 D I+ m0 l/ R4 U3 c热设计应注意以下要求。7 v8 k G2 ^) Q8 Z& k
① 电子产品热设计应根据使用要求,单独或综合采用散热、加装散热器和制冷三种基本技术手段,以获得理想的热设计方案,最大限度地满足电子产品的可靠性设计要求。2 N* r) B9 l5 L: a+ c. p
② 在电子产品的热设计过程中,需要设计人员结合实际情况,合理使用对流散热方式、传导散热方式和利用热辐射特性方式,使这些方式作用下的电子产品能够保持良好的散热状况。这样有利于增强电子产品可靠性设计的效果,使其在最终的设计方案应用中更具科学性。
+ v: Z% Q$ d6 r+ x7 K' e(4)冗余设计! O+ A8 M) s8 B4 G2 x( @
电子产品冗余设计是指利用一台或多台相同的系统构成并联形式,在其中某一系统发生故障时进行科学应对。在冗余设计的作用下,电子产品应用中的某一元器件发生故障时,其他元器件依然可以正常工作,从而满足电子产品可靠性设计要求。
: H8 J2 p7 C0 b, E) ?0 m" [9 B0 g9 D进行冗余设计,应注意以下要求。, U, `- u. ]9 U0 X6 P# w
① 在遵循冗余理论的前提下,应充分结合实践经验,以确定电子产品所需的冗余设计方案,进而为其可靠性设计水平的提升提供保障。
$ m7 X9 A% E, H. \. e" Q② 冗余设计会增大整个系统的体积、质量和成本。因此只有在较重要的电子产品中(如导弹制导、原子弹引信等)才采用。
$ G9 ~9 f1 i, G3 Q(5)电磁兼容性设计" N( }1 C2 K) `+ V% u" Y
在电子产品可靠性设计过程中,为了使最终得到的产品能够达到国家电磁兼容标准要求,避免电子电路运行中产生相互干扰,需要考虑电子产品的电磁兼容性设计。
9 o: N8 l& [4 }+ x# S+ A: k电磁兼容性设计的一般要求如下。! W. J* H% M/ p
① 设计人员应通过对印制电路板设计、电源线滤波、屏蔽机箱、信号线滤波、电缆设计、接地等技术的合理运用,使电子产品在应用中满足电磁兼容方面的要求,进而提升其应用价值。
# Y& f5 l+ j' W" L) L② 在电子产品的电磁兼容性设计方案形成过程中,应充分考虑元器件的电磁特性和敏感特性,对电子产品的电路状况也应重点关注,必要时应进行改进处理。
9 v" q4 |2 D/ w7 b I/ Q, b* z③ 电磁兼容性设计过程中,应准确识别易受干扰电路和不易受干扰电路,并按照分类处理的原则采取针对性措施,从而保持电子产品具有良好的电磁兼容性。
4 s6 \* w2 P! X# K8 t. q(6)可维修性设计
- R( k2 l/ C" P! V; s+ i# g2 y实践中通过对电子产品可修复性特点的考虑,需要在其可靠性设计中注重可维修性方面的设计,从而消除电子产品应用中可能存在的安全隐患。# P" b- x8 S6 c
进行电子产品可维修性设计,应注意以下要求。
/ {! _ P: B1 \- H& `8 z* P5 O① 应从维修便捷性、成本经济性等方面进行考虑,以确定电子产品所需的可维修性设计方案,从而为产品维修工作的开展提供科学指导。
6 \5 q7 L, O8 L5 P② 应选用性能可靠的维修工具,使这类工具支持下的电子产品维修工作效率得以提高,并完善其可维修性设计方案。( i( T% t' ^# A7 K1 L% Y) f, r& A5 i
③ 应处理好电子产品可维修性设计中的细节问题,以确保其设计方案应用的有效性。+ H% ]2 _# M% R* [- @% D
(7)结构可靠性设计2 n7 }2 F+ N, p2 P
电子产品在使用、运输中会受到各种环境因素的影响,这些环境因素可能会加速或造成电子产品的损坏,在电子产品结构设计过程中,要充分考虑这些不利因素的影响,提高电子产品的防护能力,进而提高电子产品的可靠性。1 G+ }& Y5 }8 T
结构可靠性设计的作用及要求主要包括:" P C* [! P2 g6 w. v8 i
① 通过采用有效的散热装置控制元器件的温升;
" ?0 `: [/ Y6 a9 P② 消减振动、冲击、碰撞等机械因素对产品造成的危害;
' ]- w1 R9 P: t6 C9 x, M& z③ 排除内部与外部的噪声干扰;3 x: `4 \$ Y6 e! o& Y4 K
④ 加强防腐、防潮、防霉的研究,延长结构材料使用寿命;5 |5 z3 S6 e7 R1 d( z2 ~
⑤ 设计过程应遵循标准化、系列化、通用化要求。2 Y) G/ r1 f! u- B
2.可靠性试验验证8 U1 W @: d0 i6 ^
可靠性试验是研究失效及其影响结果,并为提高或评价试验对象的可靠性而进行的各种试验的总称。从广义上说,凡是为了了解、评价、考核、分析和提高可靠性而进行的试验,都可称为可靠性试验。可靠性试验技术是在20世纪50年代开始发展起来的,最早应用于军工产品,至今已在航空、航天、电子、自动化、汽车和计算机等行业广泛应用。可靠性试验是对产品的可靠性进行调研、分析和评估的一种重要手段,也是提高和保证产品可靠性的一个重要环节。0 P; }0 ~! U' g: `0 t: M
当一个产品制造出来后,原则上,其性能指标应该可以达到原设计所规定的可靠性要求,但实际情况要复杂得多。事实上,设计过程很难将所有的可靠性问题考虑周全,不同的可靠性指标间甚至存在矛盾或冲突,只能采用折中设计,对于复杂系统,这种情况更为明显。因此,有必要通过一系列可靠性试验验证可靠性指标的实现程度,或发现并判明各种故障和缺陷。
d5 U) P% B- j; y- P可靠性试验的原理是:模拟现场工作条件及寿命周期中的其他环境条件,将各种工作模式和各种应力条件按照一定的时间比例、一定的循环次序反复施加到受试产品上。经过对受试产品的失效进行分析和处理,将得到的信息反馈到设计、制造、材料和管理等部门进行改进,以提高产品的固有可靠性,同时依据试验的结果对电子产品的可靠性做出评定。可靠性试验要达到预期的效果,必须特别重视试验条件的选择、试验周期的设计和失效判据的确定。
, X6 Y, r" k6 n值得注意的是,对于各种电子产品环境试验条件的拟定,必须根据具体的使用情况来考虑。例如,电子产品的循环试验,采用不同的试验顺序,所产生的试验结果就不一样。以气候因素的循环试验为( n, s* t0 T4 t1 S0 G5 P" z
例,当采用高温→潮湿→低温的试验顺序时(即电子产品先在烘箱中进行加温,使元器件受热干燥。然后,将其放进潮湿箱,在毛细力作用下,使元器件吸潮。最后,将元器件置于冷冻箱中冷却),若产品质量不过关,则在热胀冷缩的作用下,极易引起破裂。而如果按潮湿→高温→低温的顺序进行,由于高温烘烤首先对元器件进行了去潮处理,则潮湿对产品的影响相当于被人为屏蔽了,此时试验过程只能反映出产品受冷热交替变化的影响,结果显然是不一样的。9 S- f, i- K" G/ c( j
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