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PCB/PCBA失效分析服务对象以及模式介绍

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  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-9-18 11:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。4 o1 n5 [* P/ q; k' Z" e$ ?# N
    2、服务对象
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;1 n) y; x$ x5 ?
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
    5 Y! P" P7 |3 c7 j8 K$ p) w8 [印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。
    % a! G1 X9 R7 v/ i9 l) ?+ v
    分析过的PCB/PCBA种类:
    刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板
    通讯类PCBA、照明类PCBA
    3、主要针对失效模式(但不限于)
                     
                    爆板/分层/起泡/表面污染                         开路、短路                        

    2 w$ \5 [0 F* \$ p: S
                                                 
              焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良                   腐蚀迁移:电化学迁移、CAF

    # s! B; y- P( Z/ `# ?6 n: K% b, \& a8 K
    4、常用失效分析技术手段

    7 i( ~" v# k# u: t- K: V
    无损检测:$ c1 p% B1 q4 x
    外观检查7 W) i# P) `, k
    X射线透视检测
    % b) ^" w. \( Y0 Q3 B3 L三维CT检测
    ( B( a  e; p. k( {3 {0 b8 YC-SAM检测
    ' E+ p1 ]- \& ^5 n0 C, k红外热成像
    ) M- @5 ~; s# y) C
    热分析
    8 c0 A$ m0 E# e7 r$ @' U差示扫描量热法(DSC)
    1 I' w" o/ l1 v热机械分析(TMA)
    " g0 S& I& [4 y" v' d热重分析(TGA)' n0 q6 ~6 M; [5 q* B! B
    动态热机械分析(DMA)& ]' l( u% e9 K
    导热系数(稳态热流法、激光散射法)& W% j8 D6 D' R5 j
    , G4 ^8 n/ ]4 a+ T
    表面元素分析:# z% e  ^3 m- ?6 \; k- m7 |4 z
    扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)
    * ~6 _+ w# X, s* a. u. M3 O5 r显微红外分析(FtiR)" N' x) @' i9 `1 J. w6 f' ]( Q
    俄歇电子能谱分析(AES)
    * L3 x$ R' V1 ?3 V8 NX射线光电子能谱分析(XPS)
    % j7 u$ r0 c; p二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
    ) h' K3 b: l1 V$ r3 q* v$ q9 z8 ?$ ?' u$ \
    失效复现/验证; Z8 h% m! b/ X3 t3 i
    电性能测试" ~( F  @" R5 t8 N  R2 V' X
    击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移
    ( }' I9 B2 o+ a2 w
    破坏性检测:7 E% n' l$ L5 t# K" W1 _% v! R
    染色及渗透检测) z+ F0 T) f0 @6 Y0 Z- ~4 h
    切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样
    & f4 _/ L) R. ?; K) o" L' k1 |+ X" x

    4 O' k8 o, @5 L2 r" ]  ]* i" ?% U                        
                            
    # R0 ]/ V  p( k
                            
                            

    5 |+ p) h* p: J* h                        

    * c/ y" \( x' f. ]1 U
    . s0 C, `$ T: q- e# [; r
    5、产生效益
    帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。1 V5 F! Z8 w+ K

    , x  C: _- x" k8 V! Z1 |! z% V! y$ J( F$ f: i
    : I( u' D# s1 h4 l

    , W  ~0 F  T$ x: _+ g2 G/ w+ W0 B8 {. Z
  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-9-18 13:09 | 只看该作者
    都是为了降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力
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