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1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。4 o1 n5 [* P/ q; k' Z" e$ ?# N
2、服务对象 印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;1 n) y; x$ x5 ?
印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
5 Y! P" P7 |3 c7 j8 K$ p) w8 [印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。
% a! G1 X9 R7 v/ i9 l) ?+ v分析过的PCB/PCBA种类: 刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板 通讯类PCBA、照明类PCBA 3、主要针对失效模式(但不限于) 爆板/分层/起泡/表面污染 开路、短路
2 w$ \5 [0 F* \$ p: S 焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良 腐蚀迁移:电化学迁移、CAF
# s! B; y- P( Z/ `# ?6 n: K% b, \& a8 K
4、常用失效分析技术手段
7 i( ~" v# k# u: t- K: V无损检测:$ c1 p% B1 q4 x
外观检查7 W) i# P) `, k
X射线透视检测
% b) ^" w. \( Y0 Q3 B3 L三维CT检测
( B( a e; p. k( {3 {0 b8 YC-SAM检测
' E+ p1 ]- \& ^5 n0 C, k红外热成像
) M- @5 ~; s# y) C | 热分析:
8 c0 A$ m0 E# e7 r$ @' U差示扫描量热法(DSC)
1 I' w" o/ l1 v热机械分析(TMA)
" g0 S& I& [4 y" v' d热重分析(TGA)' n0 q6 ~6 M; [5 q* B! B
动态热机械分析(DMA)& ]' l( u% e9 K
导热系数(稳态热流法、激光散射法)& W% j8 D6 D' R5 j
| , G4 ^8 n/ ]4 a+ T
| 表面元素分析:# z% e ^3 m- ?6 \; k- m7 |4 z
扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)
* ~6 _+ w# X, s* a. u. M3 O5 r显微红外分析(FtiR)" N' x) @' i9 `1 J. w6 f' ]( Q
俄歇电子能谱分析(AES)
* L3 x$ R' V1 ?3 V8 NX射线光电子能谱分析(XPS)
% j7 u$ r0 c; p二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
) h' K3 b: l1 V$ r3 q* v$ q9 z8 ?$ ?' u$ \
失效复现/验证; Z8 h% m! b/ X3 t3 i
| 电性能测试:" ~( F @" R5 t8 N R2 V' X
击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移
( }' I9 B2 o+ a2 w | 破坏性检测:7 E% n' l$ L5 t# K" W1 _% v! R
染色及渗透检测) z+ F0 T) f0 @6 Y0 Z- ~4 h
切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样
& f4 _/ L) R. ?; K) o" L' k1 |+ X" x |
4 O' k8 o, @5 L2 r" ] ]* i" ?% U # R0 ]/ V p( k
5 |+ p) h* p: J* h
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. s0 C, `$ T: q- e# [; r5、产生效益 帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。1 V5 F! Z8 w+ K
, x C: _- x" k8 V! Z1 |! z% V! y$ J( F$ f: i
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