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PCB/PCBA失效分析服务对象以及模式介绍

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  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-9-18 11:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。
    8 _0 N( v( u/ v; ?% J9 C
    2、服务对象
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;
    1 D# M) P: ?, _+ ]- w) [+ B印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
    5 m& G' K0 `5 ?+ [2 Y" G印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。% ^" F" z1 g9 y# I& Z
    分析过的PCB/PCBA种类:
    刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板
    通讯类PCBA、照明类PCBA
    3、主要针对失效模式(但不限于)
                     
                    爆板/分层/起泡/表面污染                         开路、短路                        

    7 O: w! M& L, h- W& {
                                                 
              焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良                   腐蚀迁移:电化学迁移、CAF
    * g/ t, O- r0 `1 {! p
    . X5 {- q* C. V- o+ i
    4、常用失效分析技术手段

    ' U6 ~$ I* y" X% r" A
    无损检测:
    - k1 C0 ?  u. j! J9 i/ V7 O外观检查+ M: [; V" K5 {7 W% N7 @. I
    X射线透视检测7 O; q6 r" @$ J" ^$ H' ]- R# u" _
    三维CT检测
    1 q  N- D1 l$ G' ~C-SAM检测
    % U8 `+ e' F! [5 d/ `红外热成像- L6 K6 C8 b; s
    热分析9 f- y6 W9 d: a0 {& Y
    差示扫描量热法(DSC)2 e( N6 a& V% |' W
    热机械分析(TMA)) W8 m) n5 _5 Q
    热重分析(TGA)
    + j' j" u' h/ I动态热机械分析(DMA)
    + [; S' X+ \! _9 v; r/ K5 b  W导热系数(稳态热流法、激光散射法)1 _. U, a- d% Z6 k" g, r7 z" |

    ' s, i; }  B0 n5 c) r, N" |+ P0 Z3 o
    表面元素分析:" r1 o3 U% f  P4 U) B  |4 f
    扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)/ @$ E# O4 k: }
    显微红外分析(FtiR): L5 E- i2 V) L# G2 x5 }5 t
    俄歇电子能谱分析(AES)
    ' ]( q  R, k. q1 ^( B. L5 NX射线光电子能谱分析(XPS)# U( l  h2 V9 w8 J4 E3 E
    二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
    0 x# U) F# {% w  H2 Y  n
    ; l. r- s9 A0 q1 f失效复现/验证* v4 K0 X0 P2 V0 t5 t
    电性能测试
    / F( f  x5 d/ k$ z击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移
    / G, l& a- z' P* A, i
    破坏性检测:' t6 q, p$ b5 c, g8 m5 J: y
    染色及渗透检测
    4 F" T# s8 S# H6 C切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样
    0 ~& Q7 P: D5 z; y( V: V4 T

    : l" d, ~. }. l6 H& A" g                        
                            
    : q' r; K) S+ A* L$ K* M/ w9 W
                            
                            

    . s/ M2 f+ j9 Y3 h% Q                        

    1 j( |4 b; f, p, G0 S1 f+ @7 }! ~2 c( E( R% _3 T" q0 I
    5、产生效益
    帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。& ?; S# M0 o1 F% a# U: F/ E
    ( D8 P5 T2 R$ |* O$ v. V

    - X  [0 ?: R/ D3 e, E/ g0 a- b
    ! d+ z3 i) M7 A% ^" k6 b3 m" m& @$ ~' S
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  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-9-18 13:09 | 只看该作者
    都是为了降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力
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