从开发、生产、工程来研究元器件失效

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　　电子信息技术是当今新技术革命的核心，电子元器件是发展电子信息技术的基础，了解电子元器件失效原因，可提高元器件可靠性，也是电子信息技 术应用的必要保证。电子元器件失效存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的“物质”基础。因 此，开展失效分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制度。
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8 H- x- G% C4 t　　失效预警及启动分析机制
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　　失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失 效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。

5 E+ n8 c4 ]. e, p! H& e# u% X8 Q　　开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低预警门限，加大失效分析的覆盖面。

: q4 e2 U" ^. ~: p1 A　　生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD问题、测试过应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相对较高。
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　　工程阶段的器件失效，原因主要有早期失效、批次物料问题、尚未发现的设计隐患、雷电、潮湿、硫化等环境问题、偶然失效以及损耗失效问题。该 阶段的预警门限应处于开发和生产阶段之间。通过工程阶段的失效分析工作，去除明显异常的失效数据，长期可以积累得到公司实际的器件可靠性数据，建立公司的 器件失效率、失效模式与机理数据库。

6 O- i' h: p! K7 p; k3 C　　信息反馈机制

6 C' |# _( u0 w6 p8 t8 b　　失效发生的环节有开发、生产、工程等阶段，失效信息的汇集部门也相应地存在于多个部门。如果没有及时地将失效信息反馈至失效分析部门，势必 影响失效分析的及时性和分析结果的准确性。因此，必须建立有效的反馈渠道，使失效分析工程师能够及时了解器件的失效情况以及分析进展。

8 f/ e' n) m8 N8 z' ]　　专业技术及人员
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　　失效分析工作具有较强的专业性，从失效分析的过程看，主要可以分为失效确认，无损检测，解剖分析，失效原因验证，改进措施验证等阶段，整个 过程除了需要专业分析实验室进行解剖分析外，其他几个阶段对失效分析人员的整体素质也提出了较高的要求。严格来讲，专职的失效分析工程师应具有丰富的设计 开发经验，熟悉失效物理、硬件可靠性、失效分析仪器及其使用等知识和技能。
　　善于总结，实现点到面的技术提升
　　就一个单独的失效分析而言，其作用和意义是很有限的。该项工作之所以重要，还在于通过失效分析，可以为可靠性工作提供思路和线索。通过几个 独立的失效分析的积累，及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究，从而解决一个层面上的问题，这样便提升了失效分析工作的作用和意义。因此失效分 析人员应具有较高的技术敏感度，善于提炼和总结，通过日常失效分析工作，不断拓展和加深可靠性工作的广度和深度

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通过几个 独立的失效分析的积累，及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究，从而解决一个层面上的问题