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从开发、生产、工程来研究元器件失效

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  • TA的每日心情
    奋斗
    2020-9-2 15:06
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2020-8-31 14:24 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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      电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础,了解电子元器件失效原因,可提高元器件可靠性,也是电子信息技 术应用的必要保证。电子元器件失效存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的“物质”基础。因 此,开展失效分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制度。
    / k7 i" |+ o+ l1 z1 }
    " z+ k* r. A, m5 U* ~  失效预警及启动分析机制. u( T- A' v, F" ]1 Y0 u
    ' x# W: S: J% A4 R
      失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失 效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。4 B; h. K4 g& \5 m0 s+ B

    3 D* X# H0 m6 q+ v  开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低预警门限,加大失效分析的覆盖面。1 I0 n: G& |# g0 }
    % Y& k0 ?/ |  g8 O
      生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD问题、测试过应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相对较高。$ q6 D1 ?( n2 P( F: [2 u7 h" p% y3 t( o  d
    . f2 V: o9 i# C0 M
      工程阶段的器件失效,原因主要有早期失效、批次物料问题、尚未发现的设计隐患、雷电、潮湿、硫化等环境问题、偶然失效以及损耗失效问题。该 阶段的预警门限应处于开发和生产阶段之间。通过工程阶段的失效分析工作,去除明显异常的失效数据,长期可以积累得到公司实际的器件可靠性数据,建立公司的 器件失效率、失效模式与机理数据库。7 _$ n7 g1 n9 M0 @& A9 Y1 j! d
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      信息反馈机制& c) H1 |& d' l0 K8 x1 A# Y

    8 P* i  m% T+ m' c1 Q, B  失效发生的环节有开发、生产、工程等阶段,失效信息的汇集部门也相应地存在于多个部门。如果没有及时地将失效信息反馈至失效分析部门,势必 影响失效分析的及时性和分析结果的准确性。因此,必须建立有效的反馈渠道,使失效分析工程师能够及时了解器件的失效情况以及分析进展。
    # K0 B$ q7 I, S- j  o
    1 F9 ?/ [8 [" i* o, v; |' B% d  专业技术及人员
    / ~& V' }4 _1 y$ `& E3 f' t
    - ]. V  u# T/ ^5 z- E, }  失效分析工作具有较强的专业性,从失效分析的过程看,主要可以分为失效确认,无损检测,解剖分析,失效原因验证,改进措施验证等阶段,整个 过程除了需要专业分析实验室进行解剖分析外,其他几个阶段对失效分析人员的整体素质也提出了较高的要求。严格来讲,专职的失效分析工程师应具有丰富的设计 开发经验,熟悉失效物理、硬件可靠性、失效分析仪器及其使用等知识和技能。
    ( u8 s/ D$ n! V' _; N1 ]  善于总结,实现点到面的技术提升; V' {9 E% d1 f6 `
      就一个单独的失效分析而言,其作用和意义是很有限的。该项工作之所以重要,还在于通过失效分析,可以为可靠性工作提供思路和线索。通过几个 独立的失效分析的积累,及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究,从而解决一个层面上的问题,这样便提升了失效分析工作的作用和意义。因此失效分 析人员应具有较高的技术敏感度,善于提炼和总结,通过日常失效分析工作,不断拓展和加深可靠性工作的广度和深度* h2 y5 n- T9 ^8 ~2 l  E/ X, ]+ M1 `
    0 F4 x6 x7 ^% t# ?5 }9 k/ E
  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-8-28 15:16
  • 签到天数: 3 天

    [LV.2]偶尔看看I

    2#
    发表于 2020-8-31 15:12 | 只看该作者
    通过几个 独立的失效分析的积累,及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究,从而解决一个层面上的问题
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