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导致元件失效的重要因素之一温度

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  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-9-2 15:07
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    [LV.2]偶尔看看I

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    发表于 2020-8-20 14:01 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 Zjianeng 于 2020-8-20 14:03 编辑 , y3 h) V" g# t! J' s

    % Y! \3 u& l0 P4 m) Q; ]! h
    “这天气真的太热了,家里的空调都罢工了.叫来修空调师傅一查,竟然是电容器被烫坏了,幸亏没有发生爆炸。”网友在朋友圈里发了一 条微信,并附上一张像两个一号电池大的电容器图片,该电容器的头部原本是扁平的,如今已经高高涨起。这位网友说,因为空调连续工作,再加上空调外机被烈日 灼晒,电容器不堪高温造成的。

    + \' B1 t2 ?4 T! K5 _8 J3 [
     这位网友的微信一发,顿时引来众多网友附和:如今,全国各地开启高温“烧烤”模式已经一段时间,被高温害惨的事情可以说数不胜数。

    ' A  o6 O) f6 \* R6 f, ^
      1.温度变化对半导体器件的影响

    . ]$ U, @. l5 O+ F
      构成双极型半导体器件的基本单元P-N结对温度的变化很敏感,当P-N结反向偏置时,由少数载流子形成的反向漏电流受温度的变化影响,其关系为:

    # y/ Z$ |$ o: l$ w; Q: q
            

    # \1 D# n  K6 G1 A
      式中:ICQ―――温度T0C时的反向漏电流

    ( k! v  P! @5 {3 b; o. K' m
      ICQR――温度TR℃时的反向漏电流

    3 q: g/ X& Q* ?- u! }- p3 k
      T-TR――温度变化的绝对值

    * j  t1 l5 s- M
      由上式可以看出,温度每升高10℃,ICQ将增加一倍。这将造成晶体管放大器的工作点发生漂移、晶体管电流放大系数发生变化、特性曲线发生变化,动态范围变小。

    ' K+ i# |5 ]2 Y  j
      温度与允许功耗的关系如下:
    ) I7 y& e: z, D$ G; B1 Y
          
    7 A: M) Q; C9 L& \4 h
      式中:PCM―――最大允许功耗

    ) i1 F+ @7 q% r, ^
      TjM―――最高允许结温
    3 k8 S% O* ^  s. O
      T――――使用环境温度
    " y, o# a7 C8 _& Z% l; t
      RT―――热阻

    ; \" @0 T7 o7 D3 [* q! w
      由上式可以看出,温度的升高将使晶体管的最大允许功耗下降。
    # \. @% w7 v: ?# q1 e
      由于P-N结的正向压降受温度的影响较大,所以用P-N为基本单元构成的双极型半导体逻辑元件(TTL、HTL等集成电路)的电压传输特性和抗 干扰度也与温度有密切的关系。当温度升高时,P-N结的正向压降减小,其开门和关门电平都将减小,这就使得元件的低电平抗干扰电压容限随温度的升高而变 小;高电平抗干扰电压容限随温度的升高而增大,造成输出电平偏移、波形失真、稳态失调,甚至热击穿。

    ; u* A, Z' c" p/ ?4 n* d' F$ t! p, Z, a
      2.温度变化对电阻的影响

    ! m) T: _4 }; w8 e4 e8 J/ ]
     温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。比如,RXT系列的碳膜电阻在温度升高到100℃时,允许的耗散概率仅为标称值的20%。
    2 a+ G9 K: ]" Z  Y9 f- v
      但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。
    ! z2 N4 B" y0 B8 Z" z# M8 ^0 \
      对于PTC,当其温度升高到某一阈值时,其电阻值会急剧增大。利用这一特性,可将其用在电路板的过流保护电路中,当由于某种故障造成通过它的电 流增加到其阈值电流后,PTC的温度急剧升高,同时,其电阻值变大,限制通过它的电流,达到对电路的保护。而故障排除后,通过它的电流减小,PTC的温度 恢复正常,同时,其电阻值也恢复到其正常值。

    " a+ U5 ^* |  v5 }+ N/ K2 r
      对于NTC,它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。
    " K" G- [; r2 Q* z, t/ k4 m, {
      3.温度变化对电容的影响

    4 K) n: W9 B; e/ \* q' U
      温度变化将引起电容的到介质损耗变化,从而影响其使用寿命。温度每升高10℃时,电容器的寿命就降低50%,同时还引起阻容时间常数变化,甚至发生因介质损耗过大而热击穿的情况。
    ) c5 R* b! ]  U3 e7 z/ O  T9 ~
      此外,温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘性能下降。
    0 y8 L' K$ Q2 t) G: d6 Z3 s
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    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-8-20 14:52 | 只看该作者
    温度对电子元件影响很大 ,像车间里面都是有温度规定的
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