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瑞萨科技研制高速、高可靠性的MRAM 技术(图)

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-5-6 09:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    瑞萨科技公司今日宣布研制出一种高速度、高可靠性的MRAM(磁阻式随机存取存储器)技术,用于系统级芯片(SoC)。- k. T; u9 {; [
      瑞萨科技运用这项技术,利用130 nm(纳米)CMOS工艺制造了存储容量为1 Mb的MRAM存储器原型样品。研究表明,在1.2 V的工作电压下,有希望在143 MHz或者更高的工作频率下高速运行,而且在一千亿次重复写入试验中进行的测量证实,它的性能并没有下降。; l: Q6 f/ B' k
      瑞萨科技通过与三菱电气公司合作进行的研究,取得了这些成果,并且在2004年12月14日(美国时间)在美国旧金山举行的IEEE国际电子器件会议(IEDM)上宣布了这些成果。IEEE国际电子器件会议是在12月13 日开幕的。9 e" t3 O* y+ ?/ k1 k! \- t
      <背景知识>' \( s) {; O! b- w; x
      近年来,移动设备和数字式消费家电的功能和性能已经有了显着的提高,在将来,这个发展趋势还会继续下去。在开发产品时,由于要求性能更好、功能更强、功耗更低,需要有一项技术能够实现这一切。( R7 e. [1 U( F; }2 c
      用于存放数据和其它用途的存储器是一项关键的技术,它起着重要的作用。利用这项技术,产品可以有更多的功能,更好的性能。如今已经研制出各种类型的存储器。为了满足将来的需要,做了很多工作,一方面是改进各种常规的易失性存储器和非易失性存储器,同时研究具有崭新特性的新型的下一代存储器。
    2 B( J( c8 K! P' K8 ?- Q+ M" f: g  MRAM就是这种新型存储器,它是一种非易失性存储器,在切断电源之后,它能够保留数据,同时工作速度很高。它能够实现常规存储器的各种功能,因此对于MRAM作为下一代存储器,人们寄以很高的期望。' Z* O+ C( f# {8 j
      <关于这项技术的详情>
    % Z" z& g" n% x1 B9 Q  Y& V  这项新研究出来的技术的详情如下:' v) x0 j. [3 D
      (1) 建立可以实现最优性能的优化方法/ ]- V4 t+ L5 W% ^3 M0 u
      MRAM是利用硬盘读出磁头中通常使用的磁性材料以及一种MTJ(磁性隧道结)来存储数据的。MTJ包含一个隧道层。MRAM存储器的性能取决于MTJ的成份和结构。联合研制小组研究了磁阻(MR)比*1和MTJ中的磁阻面积(RA)*2 ,并且进一步运用与读出速度的相关性,从而形成了一个新颖的方法,可以用它找出实现高速度的最优条件。
    9 ~/ Y9 G1 G% k, N- o2 ^) q  这种最优化方法是在其它制造商之前开发出来的。研究小组弄清楚了电阻与磁阻比之间的通用关系,因而形成了这种最优化方法。利用这个方法,有可能确定电阻与磁阻比最佳组合。0 M, [- b; w9 y" D1 g# K8 G, p
      (2) 使用可以实现高速度以及隧道层最优化的磁性材料
    9 j. m2 X3 R% W% Q$ E' u  Z  MTJ结构包含一个自由层、一个隧道层和引脚层。瑞萨科技的常规MRAM分别使用 CoFe (铁钴合金:磁性材料)和 AlOx (氧化铝),在工作频率超过100 MHz时,可以达到很高的工作速度,这点已经在试验性生产中得到了证实。
    7 x; ~) R7 W6 ?0 w  为了达到更高的速度,磁阻比就必须更大,但是用最优化方法进行的研究表明,使用CoFe时,要提高磁阻比是很困难的。因为这点,研究并使用了下面的技术,以便达到更高的速度。
    : B( p# ?+ e& C  G8 @  (a) 采用 CoFeB (铁钴硼合金) 磁性材料
    5 X, Z2 R' ~. [! u  T& ]/ G  运用上述的最优化方法,可以同时开展与材料有关的研究工作。结果发现, CoFeB是一种合适的磁性材料,用它得到的磁阻比可以实现高速运作,然而CoFe并不是合适的磁性材料。正如最优化方法所预计的,使用 CoFeB可以将磁阻比提高大约30 %至70 %。
    " N0 D6 J2 _5 U* |. b  (b) 隧道层厚度的最优化
    ! a0 p* ]6 x# z, F1 U& q# O0 T8 o' f  只要把磁性材料改成CoFeB就可以提高磁阻比,然而电阻也增大了,但是并不能提高速度。另一方面, 只要把隧道层做得薄一些,就可以降低电阻,但是隧道层过份薄又会带来可靠性方面的问题。研制小组利用现有的最优化方法,找到了隧道层的正确厚度,不仅速度高,而且可靠。这样就有可能把磁阻比做得高,同时电阻也小。
    ; ?# ~- e, x9 P7 b6 o  运用上面所说的办法,一个存储单元的感测时间(读取数据的时间)为5.2 ns,读出周期就有希望达到大约7 ns,工作频率就有希望超过143 MHz。后来,在150 ℃的高温环境下进行了一千亿次的写入试验 ,没有出现性能下降的现象。这证实了虽然隧道层的厚度减少了,可靠性仍然很高。$ L) E& b( T0 w
      < 新技术的效果 ># Y9 n* c) q; ~9 _
      运用这项新技术,使用4层铜连接线制造一个MRAM原型样品,并且研究了它的效果。所使用的1T-1MTJ结构中,一个存储单元包含一只晶体管和一个MTJ结,TMR(隧道磁阻)组件的尺寸为0.26 × 0.44 μm2 ,实现了世界上尺寸最小的存储器单元,它的尺寸是0.81 μm2。- U9 l9 X/ D8 A& F( v9 e
    7 G, ?3 a: G1 S+ ^
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    2#
    发表于 2020-5-6 11:10 | 只看该作者
    为了满足将来的需要,做了很多工作,一方面是改进各种常规的易失性存储器和非易失性存储器,同时研究具有崭新特性的新型的下一代存储器。
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