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高耐压、高容量、小尺寸的独石电容器StackiCapTM——应对压电效应失效的电

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-3-26 15:11 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    在电源行业,一些应用需要高耐压、高容量的电容器,例如在开关电源中作输入输出滤波,储能,尖峰吸收,DC-DC转换,直流阻隔,电压倍乘等等,此外,在一些应用中,尺寸和重量非常重要,需要小体积的电子元器件! k& ^) P& ~6 R3 P3 E
      高耐压、高容值的电容器一般通过电解电容或者薄膜电容来实现,其体积一般较大。尽管经过多年的发展,高耐压、高容量的电容器的小型化进展还是十分有限。当前取得的进展主要在高耐压方面,但是很难同时兼顾高容量;或者是达到高容量但是电压一般小于50V。9 R1 Z, m% D, O+ V9 G) V; ~
      为了同时获取高耐压和高容量,业界常见的做法是依据DSCC 87106/88011和MIL-PRF-49470的规范将多个陶瓷电容器叠加在一起,这种做法占据空间较大且较重,并且价格昂贵。因此,业内一直存在着对更轻、更小的高耐压、高容量的电容器的需求。" S# |" r+ p% g& A; |
      过往技术局限

      失效模式决定了设计上的局限,而多种失效模式的存在也限制了中、高耐压电容器的容值提升。
    & D+ C3 Q% t; I3 z% R4 h, O: h  有些失效模式是外在的,如机械应力或热应力导致的断裂,但同时我们也需要深入探讨内在失效模式,这在制造商的管控范围之内。, @6 U6 @4 R2 R$ ?0 d, N0 W& i
      多层陶瓷电容器在设计上的限制因素,随时代的不同而发生着变化。早期多层陶瓷电容器面临的主要限制因素,是电介质材料本身的点缺陷和杂质,这些因素影响了材料的质量和纯度,如图1,从而限制了电容器内部层数的上限和每层厚度的最小值。
    4 U2 |8 }3 V2 k! _3 e$ u4 g& {( o  随着电介质材料本身质量的提高和操作流程的改进,限制因素转变为电介质材料本身的强度,而该因素一旦得到了解决,我们本可以预期制造出更大更厚的电容器,而不必担心产生介质击穿或点失效,如图2。
    ( h7 u2 |( }, R- y2 m$ \  可是一种新的失效模式出现了,我们称之为压电应力断裂,通常指压电效应或者电致伸缩现象,如图4所示。这种失效模式迄今为止仍是多层陶瓷电容制造所面临的限制因素。它影响大多数的钛酸钡二类(Class II介质,并限制了1210以上尺寸、200V以上耐压的陶瓷电容器的容值范围)。
    5 @- H" E4 p4 q) n3 j; M1 s  如图3所示,断裂通常沿着一层或两层介质层贯穿整个电容的中部。大多数的解决方案是将多个电容器通过添加引脚进行叠加,从而在给定尺寸下提高容值,但这需要消耗大量人力,花费较多成本,并会产生可靠性问题。另外的解决方案使用特殊电介质配方,但同时以牺牲介电常数作为代价,并影响最终可

      StackiCapTM是一种应对压电失效限制的独石电容解决方案。其应用的专利技术G Pat./EP2013/061918创新性地在电容器内部加入了一层压力缓冲层,使得该电容器既可展现出多个叠加电容的性能,同时在制造和加工流程上又具备单个电容器的优点。


    ! \8 Y9 ]- w" O. d

      压力缓冲层使用现成的材料系统组合,并经过标准的制造流程。压力缓冲层加在机械应力最大的一个或多个部位,从而缓解由于压电形变而带来的机械应力。依据目前为止的实验,压力缓冲层可以将多层电容器在内部分成2段、3段或4段,从而大幅缓解内部形变带来的机械应力,同时通过FlexiCapTM柔性端头技术释放端头上的机械应力,这样我们就不需要将多个电容器进行叠加了,我们也就不需要再给电容器组装引脚,从而方便标准化的卷带包装以及自动化贴装。

      小型化
    6 Z, \2 B  B  O( F0 V  在大幅提高容值的同时,StackiCapTM可实现元件尺寸的显著缩小。以下图片直观地展现了StackiCapTM的优越性。


    ! k9 Q4 U, w5 \0 f% z9 }

    9 I9 K6 Y+ A# z; D
      图7显示了已经研发的StackiCapTM的各规格产品尺寸:1812,2220,2225和3640。后续研发的5550和8060在此未作图示。图8显示了最多5颗电容叠加的引脚电容组件,单个电容尺寸为2225,3640,5550和8060。图9和图10显示了单个StackiCapTM电容器所能取代的电容组件。一个极端的例子是8060,1kV,470nF的电容如今可被单颗2220,1kV,470nF的StackiCapTM替代;3640,1kV,180nF的电容如今可被单颗1812,1kV,180nF的StackiCapTM替代,体积分别缩小到原来的1/10和1/7

      产品系列范围(持续开发中…)2 X, i# }1 \) A* x) `6 h7 T
      StackiCapTM与普通电容对比表

    4 m2 E8 G# Y3 D' t, W
      可靠性测试认证- S" C$ C  h# V& ?
      StackiCapTM已通过如下可靠性测试:
    5 z# Z  E$ \! D  R+ {  (1)寿命测试。StackiCapTM系列电容在125℃,1倍或1.5倍的额定电压下持续工作1000小时。- r5 j& ^- A, n) }  Q
      (2)85/85测试。StackiCapTM系列电容在85℃/85%RH条件下持续工作168小时。& x" w5 s$ W5 e! o: h- f; g. [
      (3)弯板测试。StackiCapTM系列电容被安装在Syfer/Knowles的测试用PCB上进行弯板测试,以评估元件的机械性能。
    3 `' v! J0 F( p2 T5 F. M7 e  截至本文发表时间,StackiCapTM系列电容已累计了超过2,000,000小时的可靠性测试时间。
    2 k: d5 f3 M, t  P% N& Z  针对1812和2220尺寸电容的AEC-Q200 Rev D认证在同步进行中。

    : x; F+ W1 b# K2 K+ e/ m

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2020-3-26 16:34 | 只看该作者
    内一直存在着对更轻、更小的高耐压、高容量的电容器的需求。
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