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研究射:频放大器稳定性意义重大,可以保障设备安全, n0 A5 l2 Y- ?/ T/ H- X" {
地运行。但是在实际应用环节,各种因素的影响使得射频放+ I( S5 v7 p9 @9 H. `
大器自激引发设备损坏的情况不在少数。如果提前预知射频9 @/ x- k9 M) v: x
放大器稳定工作条件,便能够将放大器自激情况明显地减少,
8 C: Y4 F, @" q8 `+ n, S9 L避免造成不必要的损失。本研究基于中科院微电子所自主研+ x! c1 o* J) j. y; [( ?' Z0 Q
发的RF-LDMOS进行设计射频功率放大器,而且以栅极并联
8 Y7 s% C6 y Z3 Z8 C3 t+ oR-C电路模式,对功率放大器稳定性进行良好改善。
/ R; j4 d0 F( F. }# \1射频功率放大器设计的理 论基础
2 F3 p% Z( A5 M) @% i. B- B首先,在射频放大器性能指标方面上,进行符合通信系) d; }2 U5 u' n4 A& C2 n0 Y" v# _
统发射机需求的射频高效率功率放大器设计期间,应该达
t6 ?6 U* `8 b5 T- Z; g到相应的性能标准,也就是使得功率放大器具备良好的工作6 k( j( \" A7 O4 T/ N. o
频带、稳定性以及增益性、输出功率等内容,而且稳定性、效4 t( T. }" e& o
率和线性度属于不可缺少的重要部分-4。其次,在实际分类$ J" s; M0 l% q. ?
功率放大器方面上,对于功率放大器的分类,能够遵循晶体! W4 M1 K* f/ ^. h4 `
管导通角0大小、晶体管等效电路两项指标展开分类,而且6 n% ~( \/ }" b
在晶体管导通角0.上。
^! v7 ~: l7 u* b4 D8 o2稳定性的基本理论分析
6 l0 p% X. L- }: h, @2 C7 B4 L首先,稳定性判定圆。做出功率放大器示意图分析以后$ O' a. q. z5 C; F& |6 O
显示,r, ra, Four, F分别表示信号源反射系数、输入反射系/ R3 d) n. V7 k( p$ g) \+ m
数、输出反射系数、负载反射系数。在功率放大器稳定的情* T5 Z; n+ A$ \2 T2 G' U
况下,也就是指反射系数模低于1的数值,遵循反射系数跟S
( G5 c: c8 q: @+ l的参数关系,得到了0=SImS22-SnS2.把所有的参数表达为1 r( A$ I0 q g' _1 @
复数形式,将输出端口稳定性判定圆、输入端口稳定性判定
: d0 ~+ R* e1 ~4 q0 [% A圆导出。例如,将输出端作为例子分析显示(见图1),在Ir }. i# @( o9 Z! [# @- I
是0的情况下,|r.I=ISn|, |Sn |低于1时,原点就属于稳) C8 @# u( }+ h& o) v6 Z8 X4 q
定区一部分,也就是Ir=0点,按照相同的原理,将输入端稳
: M1 z; d) G0 U# m$ B9 \# p6 x定性判定圆得出”。
' W) L7 e1 f& D5 R j1 q4 V其次,绝对稳定性条件。通过观察稳定性判定圆及稳定
" d# l" G* K) A2 h6 f8 M+ t7 q区域图可以明确地得到,|Snl<1, |S221<1期间, 如果具
v+ Z2 \! I' u( U有IICa1-r. |超过1的情况以及1t1-'oat |超过1的条
* d" K. l9 U- _+ l( p; j件,则放大器是处在绝对稳定状态中的。所以,得到K,B.两+ {7 P( s) r! r9 F! w K
. K6 w* w) w/ z, N! w; r8 }
, R& V, m6 ~' w9 U# M
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