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6 i6 ~1 T/ y$ n& y' [& A4 C Accelerate Aging ——加速老化,使用人工的方法,加速正常的老化过程。 & D+ B8 O0 ^/ M9 a1 a3 ], n$ x
Acceptance Quality Level(AQL) —— 一批产品中最大可以接受的缺陷数目,通常用于抽样计划。
0 d& y" w; n! F( R6 C- G- V Acceptance Test ——用来测定产品可以接受的试验,由客户与供应商之间决定。
% m" T9 x5 i6 F% ~ Access Hole ——在多层线路板连续层上的一系列孔,这些孔的中心在同一个位置,而且通到线路板的一个表面。
3 ]& t5 a4 ^, z0 V! |9 M Annular Ring ——是指保围孔周围的导体部分。 : D/ Q( R4 h% d1 }6 t- W
Artwork ——用于生产 “ArtworkMaster”“production Master”,有精确比例的菲林。 2 s; }( C/ X& I) D. P
Artwork Master ——通常是有精确比例的菲林,其按1:1的图案用于生产 “Production Master”。
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Back Light ——背光法,是一种检查通孔铜壁完好与否得放大目检方法,其做法是将孔壁外的基材自某一方向上小心的予以磨薄,再利用树脂半透明的原理,从背后射入光线。假如化学铜孔壁品质完好而无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗,一旦铜壁有破洞时,则必有光点出现而被观察到,并可放大摄影存证,称为背光法,但只能看到半个孔。 ; }$ c! }' | g6 x# @% |
Base Material ——绝缘材料,线路在上面形成。(可以是刚性或柔性,或两者综合。它可以是不导电的或绝缘的金属板。)。 ; g [2 U: M2 _- E3 Z: `% U. m. }
Base Material thickness ——不包括铜箔层或镀层的基材的厚度。
! w0 k% V' M7 @, t5 y Bland Via ——导通孔仅延伸到线路板的一个表面。
; F( T! T$ j$ _* E Blister ——离层的一种形式,它是在基材的两层之间或基材与铜箔之间或保护层之间局部的隆起。 % E f/ R) L. ~3 K$ U0 c
Board thickness 是——指包括基材和所有在上面形成导电层在内的总厚度。
6 B2 o1 y, X. p* d0 d# B Bonding Layer ——结合层,指多层板之胶片层 。 |