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Accelerate Aging ——加速老化,使用人工的方法,加速正常的老化过程。 $ ^3 k# r. r. w& s
Acceptance Quality Level(AQL) —— 一批产品中最大可以接受的缺陷数目,通常用于抽样计划。
3 ~7 ]" y2 b) y2 y! g Acceptance Test ——用来测定产品可以接受的试验,由客户与供应商之间决定。 5 z( q4 F5 {( I1 r6 D
Access Hole ——在多层线路板连续层上的一系列孔,这些孔的中心在同一个位置,而且通到线路板的一个表面。
( G6 Y Y2 O/ N+ h4 N Annular Ring ——是指保围孔周围的导体部分。
; z, Q( a* e0 R/ f; [ Artwork ——用于生产 “ArtworkMaster”“production Master”,有精确比例的菲林。
5 P8 E4 w0 z' h% B Artwork Master ——通常是有精确比例的菲林,其按1:1的图案用于生产 “Production Master”。 ! F- H* t: U7 c# ` L
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, g7 ?/ _( y* g/ t Back Light ——背光法,是一种检查通孔铜壁完好与否得放大目检方法,其做法是将孔壁外的基材自某一方向上小心的予以磨薄,再利用树脂半透明的原理,从背后射入光线。假如化学铜孔壁品质完好而无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗,一旦铜壁有破洞时,则必有光点出现而被观察到,并可放大摄影存证,称为背光法,但只能看到半个孔。 ( W5 G6 b( b; V
Base Material ——绝缘材料,线路在上面形成。(可以是刚性或柔性,或两者综合。它可以是不导电的或绝缘的金属板。)。 . r. s& ?9 [* ^8 \3 C! c
Base Material thickness ——不包括铜箔层或镀层的基材的厚度。 8 G9 a0 p- T' U& R# h, V0 k i% V. E
Bland Via ——导通孔仅延伸到线路板的一个表面。
# d7 d% m" x x! n( @' J Blister ——离层的一种形式,它是在基材的两层之间或基材与铜箔之间或保护层之间局部的隆起。
/ G; F/ T" d& }1 V s Board thickness 是——指包括基材和所有在上面形成导电层在内的总厚度。 6 j* {7 v) v7 \8 R- ]* F
Bonding Layer ——结合层,指多层板之胶片层 。 |