TA的每日心情 | 难过
2019-11-19 16:03 |
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1、失效分析全过程案例
: v$ @3 {. I- w& Q# {) b5 M
! \. D g6 a# @9 N7 ]A、失效信息收集与分析
5 T1 j" n& T5 L C% q
: n8 o$ L' A2 d \B、思路分析$ b: H K% i& y. O7 Z, J2 c
4 L. \7 q7 o7 n1 q6 m' ]& i% U
C、过程方法 6 ]- N1 _- [6 _
* s, q8 y# e2 O4 Q
D、逻辑推导( B$ Y+ G; Z+ u7 ]4 @) L$ n2 F, q1 f8 c
& p: |. O9 J( ? c4 sE、试验手段 / p2 R- x* ~) l# K/ p* M+ r* c0 e8 F
6 J8 h( F5 w% C$ X# X
F、综合分析% {/ ~7 O4 c) @0 c# i$ i
: ?( K- T9 e. D$ [1 s& d* hG、结论与建议' u2 H# V7 j e: v
7 |. q, |* Z4 M m" j% ^7 H
2、静电放电失效机理讲解与案例分析
2 G/ U, l# c! R* K
( \9 u: L0 d9 X+ X/ R' l& oA、静电损伤的原理
$ n' k0 a' N( {+ e1 t, _4 e: l' Y6 o- b5 k8 B, S, Q
B、静电损伤的三种模型讲解
p4 h) v1 y. l8 S9 n2 e
! ?8 w1 h7 ^% y+ @C、静电损伤的途径 6 S, ^6 ^5 X) W( k7 q$ S: }
+ f% X: ?+ {/ e+ F I) L" ?: T. D6 I; ]D、静电放电的失效模式
# X8 e$ E8 q' @' C9 G
' O$ a/ z: v! y2 ^/ K. m0 q7 JE、静电放电的失效机理 # c( G6 N5 I5 B- R# s
! z! x. E. c' m4 Z; u) D
F、静电损害的特点
. l& R! p, F7 z- }% g3 V9 D P5 B6 _" p2 U9 c3 |5 Y
G、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）# l/ l2 _- l5 F; q3 [
$ a; ?3 x1 [/ u) o) U" I9 P3、闩锁失效机理讲解与案例分析0 z) J; `" k- F& B! I
! f. m$ L+ e" o* `! g
A、闩锁损坏器件的原理
& n# R j C( z2 w, v( o, {
) T, J5 k) S2 a+ g+ b lB、闩锁损坏器件的特征
6 F2 E3 p4 X& n$ P: q+ H
3 j2 ?# R6 V6 g6 RC、闩锁损坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）
* F. C0 l# H8 a8 f4 y) \
3 T6 Q7 z! A6 D+ Y) p9 DD、闩锁与端口短路的比较 6 j- _& k0 Q5 h9 O5 W( X+ @ {
' R! T* d# u% ZE、CMOS电路引起闩锁的外部条件
6 W% U; k2 j# r4 R. m; U1 Q
# B6 h, m: J( B# I0 R$ ~F、静电与闩锁的保护设计! i8 p$ u/ w8 U9 ~% a) L H
4 h/ Z& g6 | f+ |8 p0 n) K. Z4、过电失效类失效机理讲解与案例分析$ A/ ]9 Z! t3 l& D7 M7 v( r I, Q/ r
" j* F) x& }. h: ~
A、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）2 S: T, F8 G l0 I2 }. `
8 N1 o$ w X( h' T3 TB、对应不同类型的过电的失效案例
$ C4 n' B; u, K+ {9 n5 F4 C2 f! J. i' J! _
5、机械应力类失效机理讲解与案例分析
E! Y5 W* o. Z7 [# f7 @6 q
4 E0 u+ E5 s% S/ h& f3 F% `A、机械应力常见的损伤类型
& S5 _& B- N# W7 M6 G4 s# M8 k3 y) K3 q3 t4 Y
6、热变应力类失效机理讲解与案例分析, Q2 y5 K8 p8 K
- D* _& K, o ?- a+ pA、热变应力损伤的类型和特征: M4 A7 k- N( t$ ?) P4 N5 C
: q( T9 F& L. | M# g
7、结构缺陷类失效机理讲解与案例分析
: O ?( f+ F0 ~7 _( H- F- T- R3 W- i' E G6 q/ f5 _
A、热结构缺陷的类型和特征 % m1 W8 X# ?* K
% e& F' n; O1 OB、发现缺陷的技术手段% _: b% a% \/ q1 _0 Z1 w
; L& y, W: X. d8、材料缺陷类失效机理讲解与案例分析! F3 U; Q5 X1 ]/ h, H2 j9 v
1 @- C8 N& F9 z. W! ~- ?9 `* x2 T; N
A、绕线材料缺陷
/ c2 z7 z+ a/ b9 }! R, D5 u) U6 t( ~# x" U! \0 C
B、钝化材料缺陷! N% }( b! [5 T
& l* \0 Z) @, O6 T" gC、引线材料缺陷
7 X+ H7 M0 L3 \7 P9 m
& W: ^3 Y$ }" P+ ~D、簧片材料缺陷
7 k- W* `' f: i) \( S) `. ?' l( z0 |$ u: c$ Q' D, Q& L
9、工艺缺陷类失效机理讲解与案例分析
5 Q: d- R: R, L* b: h0 Y
! L; e/ j, c/ ]7 M: d; Y0 LA、工艺缺陷的类型和主要特征，发现手段
- p, |1 I) I& K) H* S
4 t; B5 v/ V6 \. p$ l) G# T* [. X' Y) O10、应用设计缺陷类失效机理讲解与案例分析; p) _$ f& e: A. m }6 N
" \3 n$ q3 p1 V1 E0 n W. s11、污染腐蚀类失效机理讲解与案例分析
* U! F1 M5 L! d, ]* i' w/ n0 u- {1 h1 x$ V9 e
A、污染的来源与类型，腐蚀的主要原理
3 x" z9 ?! p$ c; r$ Y% h! k+ C7 `9 e; q- x
12、元器件固有机理类失效机理讲解与案例分析3 Q$ ]0 ^* Q l0 O, F% D# Q8 N
6 \$ D! x. M) G, PA、不同类型的元器件固有失效机理的归纳3 E& g$ ]; }: B) Y* a' B
: V6 f6 u& E" u( I13、面目全非的样品的分析
/ @# F5 z1 z5 c- x2 w n& A" q1 H
) a; y0 k1 W5 ~) i5 {4 Y2 w* S
. A* A7 d' t& _: ]+ H2 }0 T! J0 {, t6 j, v+ s9 K
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发表于 2020-3-9 15:06
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