传导性EMI量测系统的构架及原理分享

Colbie

传导性EMI量测系统的构架及原理分享

前言
現今的電子產品都以符合小型化、高性能、高精度、高倍賴度及高反應度等為目標，使得電路元件的分饰密度過高、電路的體積大大的縮小，然而電路變得愈精巧，則會有更多的元件擠在很小的空間當中，增加了干擾的機會，其中以電磁干擾(Electromagnetic inteRFerence ，EMI)及雜訊最令人感到困擾。電磁干擾問題的考量，長久以來一直是電子裝備及系統在設計.上的一大盲點，此乃因電磁干擾所牽涉的因素繁多，以及處理時所需的專業知識較廣的關侨。然而由於科技產業的高度競爭，新產品的生命遇期越來越短，使得
; `4 \6 a+ J7 ^+ M: h! Z( a- V我們不得不尋求EM問題的快速解決方式，來縮短產品的研發時間，以期能搶佔市場先機。EMI的抑制對象主要分為輻射性(Radiated).與傳導性(Conducted) 電磁干擾，輻射性
EMI是直接經由開放空間傳遞，不須要經由任何傳輸介質，故一般僅能以遮蔽(Shielding) 、接地(Grounding) 等方式來解決。而傅導性EMI，它是經由電源導線來傳遞雜訊的，故連接在同一個電力系統的電氣裝置所產生的EMI會經由電源線而彼此相互干擾。為對於傳導性EMi作有效的管制，首先需要對於電子元件所產生的傳導性EMI作有的量測，再依據結果選擇適當的元件值設計濾波器來加以防治.本文主要探討傳導性EMI量測系統的架構及原理。


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