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一种新型互补电容耦合 ESD 保护电路

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    [LV.1]初来乍到

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    一种新型互补电容耦合 ESD 保护电路

    0 A2 V$ X- {0 z* s4 j& i% {, k4 s  _; _; g" E1 N. K4 ]* h

    * c; L' G, b# j4 t. C0 W( _- ^
    & O" h$ c0 F! v$ k+ p摘要: 提出了一种改进型的基于亚微米工艺中 ESD 保护电路, 它由互补式电容实现, 结构与工艺简单。电路采用 0.6μm1P2M CMOS 工艺进行了验证, 结果表明, ESD 失效电压特性有较明显改善, 可达 3000V 以上。
    7 I; C8 m/ y; Y' k, }! E3 u1 D
    7 u: T( a% a( M/ ?$ T1 ~5 G7 M& K% q- ?8 \' G
    关键词: 静电放电; 保护电路; 互补式电容耦合电路* {% x$ ~$ A. {3 |4 x

    ; O8 L( G3 a# u) C2 _; k$ [7 P/ B
    1 引言# w4 ~: I" T( g& v3 V/ m8 y
    + N9 H* h5 M% S3 r" \
    ' Q4 k0 D; {$ L2 V& K! j
    ESD 保护电路逐渐成为集成电路可靠性中最关键的技术之一, 据统计 1 /3 以上集成电路产品失效是由 ESD 原因造成的[1~3]。设计公司对 ESD 保护电路的研究十分关注, 而对于一般的 Fabless 设计公司而言, 常采用多项目晶园( Multi Project Wafer,MPW) 投片方式, 实现 ESD 保护受到了工艺线的局限。因此, 一般的 Fabless 公司希望在工艺兼容的基' g8 I5 W8 [3 L! ^
    础上, 提高芯片的 ESD 保护能力。 % i4 f/ a) u8 X; @+ S
    $ l. }4 v3 d/ _$ I
    $ Q: O9 q1 a0 Y5 u3 B# N
    文中研究了互补式电容耦合 ESD 保护电路, 此电路与亚微米 CMOS 工艺完全兼容, 使其抗 ESD 效果明显提高。
    * G# ~6 c6 O9 Y. }7 B" j3 S& C+ n5 @% G' \+ y0 g+ M: Y% ?

    6 o& U: l* q$ }* }! G+ X2 ESD 保护电路元件及工作原理 4 p" t9 k9 r! d7 b

    4 ~  V; f4 D  N+ o0 L- L
      A4 m; A, K9 W# j+ q4 X3 @ESD 保护电路( ESD Protection Circuits) 在集成电路中专门起静电放电保护之用, ESD 保护电路提供了 ESD 电流路径, 以免 ESD 放电时, 静电电流流入 IC 内部电路而造成损伤。因此, ESD 保护电路内所使用的元件必须要具有较低的击穿电压(Break-down Voltage) 或较快的导通速度。在 CMOS 集成电路中, 可用电阻、二极管、MOS管等构成 ESD 保护电路。利用二极管元件构成的 ESD 保护电路, 是当电路的管脚上存在 ESD 电压时, 使二极管正偏实现对。3 [% X- g; Q' X
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    发表于 2020-4-1 15:51 | 只看该作者

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    发表于 2020-4-20 01:17 | 只看该作者

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