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; `5 e: F9 k$ T; [* C内容
; i4 j5 P# h& ~9 P12.1 射频集成电路测试基本问题
! q# Q- H7 i; a) z4 H5 @4 s) A12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案
$ y- j; |- A3 e# m% ~6 y* O12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案
# x- D) O* i3 ^5 x# s9 t2 k12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案
2 j3 s7 K, S- }5 ?% b( L) s( N12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案
5 Y: T, Y* z- A. }$ Z12.6 混频器主要技术指标及其测试方案8 C8 ?2 P: j9 G: G f- U
12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案; x8 e6 `" n3 ^2 k+ C, Q! L
12.8 电子测量自动化
" \- Y1 B& G2 x# K) ?& t12.9 GPIB总线标准1 G) o) j& c0 Q: S
12.10 VXI总线系统简介( p0 e" [" S2 A9 `' g+ B4 y: F
12.11 ATE自动测试系统
! ~4 {, k3 D$ {) H/ S: p第六次实验 典型射频芯片测试* T# O. N9 o8 r
第十二讲 典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控
, e! j+ B& H J D(GPIB)小结4
1 H/ s. g3 F* _( R& a% a2 n3 G' R# B v ?: P( ^
12.1 射频集成电路测试基本问题6 W6 q; X0 @5 c/ h6 M, j# M% M. L
8 H. _5 O2 _" Z8 x- N! w配置测试系统:PF、LNA、PA、Mixer、VCO、Modulators and demodulators,工作频率为 800 MHz to 900 MHz,1.9 GHz and 2.4 GHz,或高于2.4 GHz;
* Z1 e9 _: V. ~& ]( @( G+ Z
2 s! |8 ]- ]5 V) Q" ARFIC性能测试:器件增益/损耗、S参数(增益/损耗、隔离、匹配、VSWR)、功率(邻道功率和效率)、增益压缩、混频器转换增益、混频器泄漏、网络噪声系数、 4 i- h; `, G1 N, G ?
N阶内调制(交调和互调)、振荡器相位噪声、谐波失真(SOI和TOI)、IQ调制压缩、隔离、寄生信号、功耗、VSWR和EVM等。
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无线系统测试:例如:WLAN(无线局域网)。0 ^- `1 N' d7 b8 G0 ?+ A- U
i+ t' ^) m" _3 Y& i" S2 d% ?无线局域网的两大标准:IEEE802.11和 ETSI HIPERLAN;
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标准中采用了不同的调制技术,例如:FSK、MSK、GMSK和OFDM 等调制技术;
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/ ?) f' i0 l5 s; \无线局域网的射频物理层,包括时域、频域和调制域的分析和调试。- F% Q5 ~# M7 t
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