找回密码
 注册
查看: 581|回复: 1
打印 上一主题 下一主题

芯片里面长啥样?扫描电子显微镜放大10000倍告诉你!

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2019-11-21 14:38 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x

3 o. i7 c; S; }9 M5 m. E3 w2 J! n

" y. c3 E  I. C& ?1 Z( H& u; p' K. M! T

' l" J* k4 I, A2 F0 k# O' \, o% F* O$ I) D& U$ S6 o8 @. n. t0 q5 ~+ ?) o/ {

2 g' _" p( Y, G& T9 r

说来惭愧,张大妈应该算是一个消费指导网站。但是笔者这篇文章基本并没有涉及消费,而更像是一篇科普文章。所以还请感兴趣的童鞋们继续围观,对芯片内部结构不感兴趣的童鞋们请返回。

最近521的第一届值友节上,看到张大妈的CEO放PPT,提到了SMZDM有全世界最高品质的用户:值友,这个群体分布在全世界189个国家,其中83%以上的用户拥有本科以上学历,年均消费超过10000元。高于行业平均线3倍。
; k3 ]. }; k7 m; ?, y

一直以来感觉在张大妈发表文章,是一种不错的体验。毕竟受众的面很广,流量也非常大。每每文章发布,都能很快获得大量用户的评论,寻找到大量同好。这也是我发原创的最重要动力来源。

好了,言归正传吧。这次文章的主题是芯片内部的结构。所谓芯片,其实就是集成电路(IC,全称Integrated Circuit),其实就是通过光蚀刻等方法,将传统的电路集成到一片硅片上。

目前最新IC工艺早已进入纳米级(10的-9次方),也就是0.000000001米。例如英特尔的最新的工艺已经进入14nm,正逐步向10nm推进,而台积电和三星也早已开始了7nm工艺的预研。要想用显微镜看清这些产品的线路,那对显微镜的放大倍数有着极高的要求。没有几十万倍的放大倍率是做不到的,普通企业的实验室根本不可能做到。

因而本文所展示的这个78L05还距离纳米级别有一段距离。78L05是模拟功率器件,内部结构相对比较简单,线宽也比较大,应该说是属于微米级别的。因而用10000倍的扫描电子显微镜(SEM)就可以看得相当清楚了。只是想抛砖引玉,说明一下原理,毕竟半导体的原理基本都是相通的。

这篇文章其实也是源于笔者所在的公司最近做的一个故障分析项目(Failure Analysis),毕竟普通家庭不可能配备电子显微镜这种设备。笔者公司的实验室其实也只有一台5000倍的SEM。后面10000倍的那个扫描隧道显微镜的图片还是去其他单位的实验室照的。

好了,说了那么多,究竟是哪块芯片呢?其实就是一片SOP封装的78L05,8个pin。是主板上很常见的芯片,是一颗12V转5V的稳压块芯片。很多厂家都有做,比如ST(意法半导体)等等。至于这次分析的这片是哪个厂商的,因为涉及到品控,所以具体的不方便透露。78L05在电脑的主板上很常见,就是图中红框里的这片,只有小手指甲的一半大小:

非常常见的元件,某宝上也很容易买到:

某宝上的价格其实是零售价了,一般拿的量比较大的话,单颗的采购价大约是2美分左右,折合人民币0.13元。

网上随便找了张DATASHEET,这是PIN脚定义。比较简单,DC12V入5V出,然后供给下一步继续降压或者直接供电压输入是5V的芯片。

先放在高倍光学显微镜下观察,放大倍率60倍:
" ^" ]8 }& x8 @# [7 ?2 \1 w

背面:

使用强酸溶液将树脂外壳溶解,即Decap操作,当中的硅片露出来了。注意,硅片只占整个78L05中间很小的一部分:
) b1 j; ]9 P* f# e3 n0 |


1 g+ U2 y' O! W6 b+ A1 y3 Z高倍光学显微镜下,进一步放大观察Die(裸片)。PIN脚的定义很容易理解了:一个输入,一个输出,4个是接地,还有2个NC: $ c' `$ R- q+ s9 B

用X光检查是否有断线或折断:

+ X8 B5 H4 G6 G( |/ N( R+ R2 K* w
光学显微镜下,继续放大,可见3根铜线连接(bond)在裸片(die)上:
0 j+ H* l+ R+ D, i, |1 p


) ?9 t2 R9 K+ m$ L( J, V% `  S+ {3个BOND点的局部放大图,都正常:# p- a, P5 n( l. k1 v( C


% l$ X# D% k; A3 u好了,光学显微镜的部分到此结束。接下来,进行SAT验证,产品正常,没有Delamination(分层),粉红色是产品过IR后因不同材料不同膨胀系数的自然现象,正常。

  ?( S7 G3 `4 `/ y

接着,进行EMMI(Emission Micro Scope)比对(关于显微镜成像分析,具体可参考维基百科。经过微光显微镜验证,发现良品与不良品的现象相同,因而判断这片不良品的Chip并没有Crack的现象。

于是,接下来轮到电子显微镜上场,来帮助厘清问题了。# O+ W+ [  g* j3 D- w

晶片(Die)的侧面:

1 E8 j$ `6 X- c6 h
晶片(Die)与底座接合处: / Q: ^# T( s& i/ m8 z6 f, r
; j+ Y7 L& D. ~" H# r* U


4 @8 ], W+ x" J  ]5 A硅片的正面(500倍):
* B+ c0 P) Q/ L


3 X% U/ M8 W+ U# U$ G& U+ {鸟瞰图(500倍) :
& O3 j/ \* C- W) t
- S* y1 X: V* U$ H7 n


" x# i$ S* M# ?5 W将铜线的连接处,局部放大到5000倍,发现问题了:
3 }* E7 t. c7 k3 S8 g, Q" N
. U% b! s' A( G9 h$ @* t

再放大到10000倍,看得更清楚了,发现了Crack(破裂):

那么,良品应该是怎样的呢?如下图(5000倍):

再放大到10000倍,良品是没有破裂的:

% f$ o" ?6 O* x1 i* g4 u1 f! T; o

& N; ^8 G6 \7 [0 M5 a6 J
至此,问题基本厘清了。接下来,就是依照产品的批号等信息,回溯到工厂产线上负责接线的设备和人员上了,距离root cause也就不远了。有值友可能会好奇,一个78L05,值得花费这么大的力气吗?其实,由于涉及到的量比较大,所以肯定是值得去分析的。

其实7805的单颗成本很低,但就是因为小零件出问题,导致整个系统就出大问题。故障分析的目的就是找出根本原因(root cause),杜绝问题再次出现。希望这篇文章,能够帮到大家了解到更微观的IC内部的世界!


6 P6 \5 E' r" U2 K
  t7 o3 `, r4 q/ V
  O1 x5 S* @8 @( N( ?5 I2 D

该用户从未签到

2#
发表于 2019-11-21 23:54 | 只看该作者
这篇必须给赞,很好
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-5-24 01:07 , Processed in 0.093750 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表