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基于最小熵星载合成孔径雷达电离层效应校正

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    基于最小熵星载合成孔径雷达电离层效应校正

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    (电波科学学报2015年第30卷第五期)
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    摘要:分析了电离层闪烁效应对低频段星载合成孔径雷达((Synthetic Aperture Radar, SAR)方位向分辨率的影响,并基于相位屏方法进行了仿真研究.结果表明,随着电离层闪 烁强度的增强,方位向分辫率逐渐降低,当处于强闪烁条件下时,方位向分辫率严重降低, 甚至无法成像.利用最小嫡方法对加入电离层闪烁效应误差的一副相控阵L波段合成孔 径雷达(Phased Array L-Band Synthetic Aperture Radar, PALSAR)图像进行了校正,仿 真试验结果表明,最小嫡方法可有效校正电离层闪烁效应造成的方位向分辫率恶化的影 响,校正后图像方位向分辫率得到了很好的恢复,接近原始无误差图像方位向分辫率,图 像质量明显提高。: R" C/ Z, b; y. \+ [; k
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    关键词:电离层效应;星载合成孔径雷达;相位屏;最小嫡
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    发表于 2019-10-8 17:23 | 只看该作者
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