TA的每日心情 | 开心
2019-11-20 15:05 |
|---|
签到天数: 2 天 [LV.1]初来乍到
|
EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算 # M( w; }/ @) {. k* w$ y7 P9 \7 {
（电波科学学报2015年第30卷第五期）
+ R/ a6 D- c4 n i& c" k. h
2 m; g) x& i5 s O9 |" A4 T2 b摘要：双向解析射线追踪(Bi-directional Analytical Ray Tracing, BART）算法从发射 端和接收端同时追踪电磁波射线在导体表面的弹跳过程，并用解析的三角形表征射线束 的横向尺寸，极大地提高了电大尺寸导体目标的电磁散射计算速度．将此算法进一步推 广，发展了扩展型双向解析射线追踪(Extended BART, E-BART）算法，并应用于电大尺 寸、有耗介质目标的高频电磁散射计算．针对介质面元，E-BART算法需同时考虑反射射 线和透射射线的追踪过程，并计算物理光学（Physical Optics ,P0）和几何光学（Geometry Optics ,GO）散射参数．损耗介质的射线传播过程满足复Snell定理，传播方向由等相面确 定，衰减方向由等幅面确定，考虑到损耗介质内部的格林函数与空气的格林函数不一致， 提出了P0/GO近似变换的思想来计算相应的散射场．与商业FEKO软件的计算结果对 比，证明了E-BART算法的准确性和高效性，并分析了几种典型目标的散射特性。* V5 T8 K& T, d* X& [& ^" [7 ?
3 A! O `1 i; T. [7 B8 c6 w关键词：射线追踪；损耗介质；高频电磁计算. H! B; ~% [2 u) D. x3 m
1 Z+ ]5 F5 C" q3 }0 W' J T
6 f6 A% O8 e# I( Z) S- o: k I+ [! K7 K3 `- C7 g
|
|
/1 
发表于 2019-9-30 10:23
收藏
淘帖
支持！
反对！