基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算

Colbie

基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算

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（电波科学学报2015年第30卷第五期）

  E% p2 k2 W( ]) F* A5 b: L- f摘要：双向解析射线追踪(Bi-directional Analytical Ray Tracing, BART）算法从发射 端和接收端同时追踪电磁波射线在导体表面的弹跳过程，并用解析的三角形表征射线束 的横向尺寸，极大地提高了电大尺寸导体目标的电磁散射计算速度．将此算法进一步推 广，发展了扩展型双向解析射线追踪(Extended BART, E-BART）算法，并应用于电大尺 寸、有耗介质目标的高频电磁散射计算．针对介质面元，E-BART算法需同时考虑反射射 线和透射射线的追踪过程，并计算物理光学（Physical Optics ,P0）和几何光学（Geometry Optics ,GO）散射参数．损耗介质的射线传播过程满足复Snell定理，传播方向由等相面确 定，衰减方向由等幅面确定，考虑到损耗介质内部的格林函数与空气的格林函数不一致， 提出了P0/GO近似变换的思想来计算相应的散射场．与商业FEKO软件的计算结果对 比，证明了E-BART算法的准确性和高效性，并分析了几种典型目标的散射特性。
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关键词：射线追踪；损耗介质；高频电磁计算

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基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算。