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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

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发表于 2019-3-26 08:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响
. \% j8 Y4 |4 P1 \
摘要
0 z" p! P8 K3 V3 A相位噪声是时钟、射频频综最为关注的技术指标之一。影响锁相环相噪的因素有很多,比如电源、参考源相噪、VCO自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中,电源引入的低频噪声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品,为了获得极低的相噪性能,往往采用低噪声的LDO供电。然而,采用不同的LDO给频综供电,取得的相噪性能往往会有很大差别,同时,LDO外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。3 [6 S/ w' f6 Y. |1 k! x: S

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2#
发表于 2019-3-29 14:31 | 只看该作者
看看,谢谢楼主分享

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3#
发表于 2021-9-30 17:02 | 只看该作者

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4#
发表于 2021-10-23 16:06 | 只看该作者
LDO环路稳定性
! }3 H2 d- i2 C5 [# m
  • TA的每日心情
    无聊
    2020-5-15 15:27
  • 签到天数: 14 天

    [LV.3]偶尔看看II

    5#
    发表于 2021-11-4 21:31 | 只看该作者
      o% M3 F, x5 z- J0 s$ w
    看看,谢谢楼主分享

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    6#
    发表于 2021-11-15 14:16 | 只看该作者
    学习学习学习学习学习学习学习* N) Z2 Q+ s& Q. J" l. D8 j$ p

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    7#
    发表于 2021-12-3 20:32 | 只看该作者
    感谢楼主分享
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