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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

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House

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1#
发表于 2019-3-26 08:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

+ H9 A! |9 F: @5 x8 H/ ]$ [摘要, V  D( r) h) _% N0 {& \
相位噪声是时钟、射频频综最为关注的技术指标之一。影响锁相环相噪的因素有很多，比如电源、参考源相噪、VCO自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中，电源引入的低频噪声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品，为了获得极低的相噪性能，往往采用低噪声的LDO供电。然而，采用不同的LDO给频综供电，取得的相噪性能往往会有很大差别，同时，LDO外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。- U2 Q" b( \$ ^$ @. T/ d& C
4 J4 p: v4 f, h% j. ]+ S; W4 R
0 @' }+ d2 Q4 p% w5 {

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cat12620

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2#
发表于 2019-3-29 14:31 | 只看该作者
看看，谢谢楼主分享

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aquss

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3#
发表于 2021-9-30 17:02 | 只看该作者
好

“来自电巢APP”

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yearn

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4#
发表于 2021-10-23 16:06 | 只看该作者
LDO环路稳定性  h0 W  Q+ q$ a8 Y6 L  l

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z55557777
  • TA的每日心情
    无聊
    2020-5-15 15:27

    • 签到天数: 14 天

    [LV.3]偶尔看看II
    5#
    发表于 2021-11-4 21:31 | 只看该作者
    , e! o' {( q7 p- B4 |
    看看，谢谢楼主分享

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    Danny12243

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    6#
    发表于 2021-11-15 14:16 | 只看该作者
    学习学习学习学习学习学习学习$ T  g2 U% \3 Z8 k  e

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    hhh虎次郎

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    7#
    发表于 2021-12-3 20:32 | 只看该作者
    感谢楼主分享

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