LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

House

LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

4 D. c/ C; y3 g摘要
相位噪声是时钟、射频频综最为关注的技术指标之一。影响锁相环相噪的因素有很多，比如电源、参考源相噪、VCO自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中，电源引入的低频噪声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品，为了获得极低的相噪性能，往往采用低噪声的LDO供电。然而，采用不同的LDO给频综供电，取得的相噪性能往往会有很大差别，同时，LDO外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。
! [% c$ j" h* w, M# A- b) J

6 b# D' C  k$ `/ @- X8 G0 J
' e% s5 U5 q+ I, S! _' O1 J

游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

' T4 |% b2 r2 S3 L9 d" k$ y& N+ w

cat12620

看看，谢谢楼主分享

aquss

好

yearn

LDO环路稳定性
8 M, _2 r3 g  V3 H# b5 j

z55557777

3 ?& N. k- Y1 J看看，谢谢楼主分享

Danny12243

学习学习学习学习学习学习学习

hhh虎次郎

感谢楼主分享