RF和微波开关测试系统中的关键问题+开关集合

RF_CE · 发表于 2019-3-22 16:46

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RF和微波开关测试系统中的关键问题+开关集合

无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RFIC 和微波单片集成电路的测试。这些测试
通常需要很高的频率，普遍都在GHz 范围。本文讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF 开关卡规格，和有助于测试工程师
提高测试吞吐量并降低测试成本的RF 开关设计中需要考虑的问题。

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