采用芯片测试的环路滤波器设计

Allevi

　　采用芯片测试的环路滤波器设计

       小数分频频率合成器在测试时必须外接一个环路滤波器电路与压控振荡器才能构成一个完整的锁相环电路。其外围电路中环路滤波器的设计好坏将直接影响到芯片的性能测试。以ADF4153小数分频频率合成器为例，研究了其外围环路滤波器的设计方法，给出了基于芯片测试的环路滤波器设计流程，并进行了验证测试。测试结果表明，该滤波器可满足小数分频频率合成器芯片测试的需要。

　　在进行小数分频频率合成器的芯片测试时，数字部分可以通过常规的数字测试方法即可以实现；而输出射频信号的相位噪声、杂散噪声则需要芯片工作在正常的输出状态下才能测试。小数分频频率合成器芯片在测试时需要与外接环路滤波器（LF）、压控振荡器（VCO）才能构成完整的锁相环回路，在具备正常的芯片功能的前提下才能实现对其相位噪声、杂散噪声下的测试。

　　

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