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最近做一个以太网的介质强度测试，电源线对以太网2000V的介质强度fail，电源线对PGND介质强度2000V测试OK，PGND对以太网500V介质强度测试OK。系统采用AC220V供电，DGND与PGND采用多点接地（共地）。
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K+ k4 b7 ]/ H9 j测试电源线对以太网时发现PCB上RJ45的引脚间有放电现象，2 f* \, J$ d% H( v* V
查看PCB发现网变后端的PGND没有掏空，PGND层与RJ45引脚间距只有10mil。
# ^3 `" ]% v1 L! Z怀疑是PCB设计上的问题引起的介质强度测试fail。4 w X( S! a& h7 V7 Z' H, Z
3 [* _$ a- N, R& G那么在电源线对PGND测试OK的情况下，怎么会导致电源线对以太网测试fail的呢？. [* l3 S4 `+ P, B9 E9 u
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发表于 2018-2-28 11:40
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