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STM32 AD采样问题?

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1#
发表于 2015-3-25 15:48 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     关于STM32 AD采样, 我们知道当AD输入采样值为3.3v以内时,mcu可以采样到,但如果高于了3.3V,MCU就采样不到! 针对于这种问题怎么解决,各位有没有什么办法解决,个人观点是不是可以用什么电路进行转换或者有什么IC可以识别高于电源电压的AD采样值! ) j1 A4 ~7 _; ~

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发表于 2015-3-25 19:40 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
% [2 Z# d) N- a3 o1 |: R楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
: q* C/ d* P+ d9 S
我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。
8 U8 r2 C5 [8 m/ U; m# w你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC的参考电压不一样,假设分别A为3.3和B为5V,而你要测的点电压为4.5V,这样你如论如何都需要分压吧,要测的点经过分压后(3.3V内)再接入A,B则直接接测试点
+ B7 s1 F; d; P* c! H4 F2 v8 s# _0 \  z, h) K, O

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发表于 2015-3-25 18:45 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 17:30
# {8 K' z/ Q8 A$ z5 a+ [5 i& D分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!

. s( H! W  m' j8 r" O" q明白你的意思了
. a! C  v3 r' O% B1 a) c! t你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗?" i8 N3 W, t8 ?' _
如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如果你的阻抗够高,分压的级数与串联的电阻的数量级大于MCU的输入阻抗,即可看成不影响。
* K$ F; J* w* y! W

点评

是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用, 比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:49

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:07 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 15:575 ~. P5 H9 ?5 k1 I- s
你采用几个电阻
0 ~% Y8 k4 ^, @' l( H8 z使用分压士式

: r( K' u( t) v7 F# V( `7 L; c/ L   A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V  ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V  )
4 U. i# J! N0 z* h' g! S2 _6 @

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3#
 楼主| 发表于 2015-3-25 15:55 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 15:50
( u/ |9 D+ F5 Z  B& ^& Y电阻分压
9 f% v# C% v6 f' [) w
是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点 1 }3 A0 m4 U# s" t; P

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4#
发表于 2015-3-25 15:57 | 只看该作者
你采用几个电阻
) ?  E7 M* v+ }$ U. z使用分压士式
2 `4 G; X) F9 K
- J: M6 S! ^! V: ?9 a) v只要采样不大于3.3V
3 n5 B# V7 J' j" D: y7 f采样肯定没问题

点评

[attachimg]94715[/attachimg] A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V )  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:07

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6#
发表于 2015-3-25 16:26 | 只看该作者
A采样点,分压,然后分别接电阻到STM32与MCU B0 |) i6 ^5 a" i' J8 L
A采样点的电阻分压的数量级小于串联到STM32与MCU B电阻的数量级。

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7#
发表于 2015-3-25 16:27 | 只看该作者
我的建议是你使用分压电路
) X9 q5 D+ L$ F  v$ x' B把整个电压降下去; `4 v4 Q# N. U
使电压低于3.3V3 w- q- ?  J% p' l4 f0 j7 N
这样采样就不会有问题, X8 S# f) W" _

" f. s, p2 t4 j: e8 Q/ K' _! S3 {只是采样点的电压降了一些" s- s0 E8 m/ }/ E8 Y
其他的没什么影响

点评

如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:35

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8#
 楼主| 发表于 2015-3-25 16:35 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 16:27
1 G, ~1 R* y! r我的建议是你使用分压电路# X$ k, }. S# d" u+ K
把整个电压降下去9 ~- O+ U2 j; N4 N  C
使电压低于3.3V

$ d3 C! Y) z* J, e* b如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误
" l9 u  u1 z* v: L7 a7 A7 a( R8 s! w- e

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9#
发表于 2015-3-25 17:02 | 只看该作者
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

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我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。 你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:40
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!  详情 回复 发表于 2015-3-25 17:30

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10#
 楼主| 发表于 2015-3-25 17:30 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
4 F) ~9 h( D4 h. p4 A) j楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

9 Y# ^5 g" t6 ]/ l7 X( h分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟! , x4 |9 k2 p" b$ X: [

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明白你的意思了 你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗? 如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:45

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12#
 楼主| 发表于 2015-3-25 18:49 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 18:45% m( L& Y4 s; h$ }+ u0 f
明白你的意思了( U6 l! r2 z4 v$ `+ p+ l
你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM ...

) y" m3 F% p$ r( O; Q8 }是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?" V* s  u; _& i# I7 ~

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就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:55

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13#
发表于 2015-3-25 19:18 来自手机 | 只看该作者
你怕影响的话,看直接从采样点拉一个跟随器是否可行,应该不会在影响前后了吧

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能具体点吗? 应该怎么做 ,谢谢!  详情 回复 发表于 2015-3-26 20:21

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15#
发表于 2015-3-25 19:55 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 18:49
. N- Y, N! U* M# V; r是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5 ...

6 q' p0 Y0 T2 H就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。
3 C5 `- x5 [: p0 k8 T1 n, `
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