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楼主: stupid
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[仿真讨论] 一周往事1506

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31#
发表于 2015-4-15 21:31 | 只看该作者
版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响”
9 Y; p% ?* O4 Y* x( ]. s4 b这边break channel是指的什么啊?另外,你是如何去除SMA处阻抗突变的影响? 感谢。
8 N' S7 |( V5 B" x

点评

break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。 SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。  详情 回复 发表于 2015-4-16 10:16

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32#
 楼主| 发表于 2015-4-16 10:16 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:31' m0 N" r' s% l& R+ {" |" D0 z
版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
; ^! s( Y  w. F( f6 P2 f! |  U3 S
break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。0 M( `4 F$ U5 Z6 K
SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。
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点评

谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?  详情 回复 发表于 2015-4-16 14:34

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33#
发表于 2015-4-16 14:34 | 只看该作者
stupid 发表于 2015-4-16 10:16
& U" \9 K" S6 E2 U% f* J% G4 Abreak channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。8 C3 ^( S* E  r+ n2 B
SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...
* T( x9 w2 Q1 q9 ~( v5 _8 s0 [
谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

点评

这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。  详情 回复 发表于 2015-4-20 14:10

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34#
 楼主| 发表于 2015-4-20 14:10 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34" Q) z; E- h; R% F
谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

" T( L2 d* }5 N这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。

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35#
发表于 2015-4-21 16:37 | 只看该作者
本帖最后由 qingdalj 于 2015-4-21 16:39 编辑
6 `* _8 W( i6 ]. D
7 P4 k  Q6 R: ~' T罗辑思维很不错,罗胖讲的很多都发人深省;崇拜楼主各种通,很多名词都没听过,惭愧
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