低温测试过不了

ann_wz

低温对于pcb上面的那些东西有影响？看得到的芯片，导线，看不到的信号的速度什么的，高手出来谈谈，低温测试过了的，在设计板子的时候需要注意什么

fallen

主要就是电容的容值，某些DC-DC低温启动不正常（修改COMP的，比如MP1482就出现过低温不启动而修改COMP），低温启动DC-DC纹波过大的。

jacklee_47pn

1.石英晶體有沒有溫度補償? 用TCXO來改善。
/ \9 J* h0 d' o! ]' x5 Q! U6 m- u! `' S2.電容器不要用Y5V等級，改用X5R或是X7R等級。
- q. \+ ]5 ?0 P9 u3.檢查IC是不是能工作溫度於目標範圍內?

北漂的木木

楼上说的都差不多了。我来总结下。
环境高低温测试，跟PCB走线关系很小，除非，你用的板材是最烂的，只要是正规板材，没问题的。
. Y6 w2 Y6 D3 n- d6 t$ L+ e* J# b% a其次是器件的选择，晶振负载电容，补偿电容，优先选用C0G/NOP，其他的电容，优先选用X7R，X8R属于高温电容，你应该用不到。电阻的话，用大品牌的，不要整那些基本上没听过的牌子。
然后就是芯片，至少要满足工业级要求。如果板子上用了商用的，铁定过不了。
; c- V" q! E! ]7 `. i; b晶振如果满足温度要求，基本上是不会影响太大。
+ J4 X% _' ]  p) `# E) Y7 A- p总的来说，低温过不了，基本上是用料的问题。
其实，最难保证的，是物料的采购。很多采购员，甚至是工程师亲自去买，也会买到次品。这是国情，没办法。

1 _& Z- D) \" K% V

ann_wz

jacklee_47pn 发表于 2015-2-7 20:13
0 T+ G- w6 a+ Q! S. J  ]$ w1.石英晶體有沒有溫度補償? 用TCXO來改善。
4 {  T( E! l; f; n5 J2.電容器不要用Y5V等級，改用X5R或是X7R等級。
3.檢查IC是不 ...

版主，应该不会跟pcb的布线布局有关系把，比如时钟线的长度过长，然后一些等长线，比如lvds，dvi, ddr这些高速的信号，等长做的不严格，会不会低温会不会出问题呢？
4 e; P5 p2 h: m1 Z

baoshiyan

我想问下你，你这个低温测试的温度范围是多少到多少的？

东山郡谢

1、系统IC，电源，晶振等元件是否工作在推进温度范围；
2、电源的带负载能力及纹波是否稳定；
+ Z3 }/ v! A1 T! ^3、试着把主控的内核电压提高一点点看看；
5 Q. x# {/ n: q/ C- v

东山郡谢

ann_wz 发表于 2015-2-8 18:53
版主，应该不会跟pcb的布线布局有关系把，比如时钟线的长度过长，然后一些等长线，比如lvds，dvi, ddr这 ...

# I; v) H* o0 t7 \5 n( D9 Y有种情况，系统在低温下运行速度会变快（如DDR），这样的话就有可能跟你说的那些走线有关系了

zlpkcnm

还是那句话，电源，时钟，复位为基础
5 s0 [+ d1 U! t4 h

zhaoyang0351

我一般-30度低温试验，在选用所有器件都符合低温要求的时候，低温对晶振的起振有很大影响，有过32.768晶振起振不正常现象。

fresco_xy

纯低温不过主要是器件问题，高温到低温突变不过是PCB防潮处理不好

fresco_xy

电源上的电解电容要选宽范围的或者钽电容，普通电解电容在－30度以下容量会大幅减少

SFIRE

看这个样子楼主做的低温试验应该是在-40了
( K+ y1 S% x- i: v6 a; y有几个问题要确认一下：
1、低温工作不过还是启动不了？
1 h% B0 l4 R  K2、设备使用的是锂电池还是外部电源？

对策：
, B0 T. q, s* y6 a- i1、如果是低温不启动，那就要看你的锂电池是否在低温下输出正常范围i的电压？同时所有的电源芯片、电源控制芯片的输入门限是否在2.5以下？（）如果是工作不了那就要看你的CPU或者控制芯片的工作温度范围了。。建议楼主把这些主要芯片查清楚
2、如果是使用外部电源，那问题应该在于你的MCU或者外围电路，不过一般外围的晶振、复位的温度都没问题。如果是锂电池，请参考第一点

leeping2d

低温？  是高低温测试过不了吗？   看看你的 时钟信号， 和PLL电路是否良好

cedzbj

关键看你是什么现象。