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解决信号完整性问题的100条通用设计原则(干货)
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作者:
wiusuiwj
时间:
2020-8-10 15:14
标题:
解决信号完整性问题的100条通用设计原则(干货)
具有40年研究经验的国际大师Eric Bogatin给出的:100条使信号完整性问题化的通用设计原则
I4 m( ?. V+ M) P
No.1 网络信号质量问题化
! W$ B- }! U* t$ |4 [# P
策略---保持信号在整个路径中感受到的瞬态阻抗不变。
' P7 x& k! J7 D4 y$ j6 q
设计原则:
- K @# R; I2 f4 Q+ Z' W& Z
1. 使用可控之阻抗布线。
& U( m( Y" Q4 ~) y y1 |
2. 理想情况下,所有的信号应使用低电平平面作为参考平面。
" G3 E9 l0 B% J2 {
3. 若使用不同的电压平面作为信号的参考平面,则这些平面之间必须是紧耦合。为此,用薄的介质材料将不同的电压平面隔开,幷使用多个传感量小的去耦合电容。
, L2 h. T. ~4 {3 ^5 X# ]
4. 使用2D场求解工具计算给定特性阻抗的叠层设计规则,其中包括阻焊层和布线厚度的影响。
p B; A- Z& {8 l
5. 在点到点的拓扑结构中,无论单向还是双向,都要使用串联端接策略。
; t4 J ?% F4 X/ a l; F
6. 在多点总线中要端接总线上的所有节点。
8 a+ }; j1 y% `3 G- a
7. 保持桩线的时延小于快信号的上升时间的20%。
) t7 c" O) q$ R9 W
8. 终端电阻应尽可能接近封装焊盘。
4 C4 p3 O# I5 u6 l
9. 如果10pF电容的影响不要紧,就不用担心拐点的影响。
8 Z+ {$ m. D2 a; T! e& u% e
10. 每个信号都必须有返回路径,它位于信号路径的下方,其宽度至少是信号线宽的三倍。
( Z `; j( G' q* `; u+ U
11. 即使信号路径布线绕道进行,也不要跨越返回路径上的突变处。
# t- B0 V6 i% ^6 d
12. 避免在信号路径中使用电气性能变化的布线。
5 ?, l) l& O h8 |3 K+ Z
13. 保持非均匀区域尽量短。
/ w7 K! y5 z/ z/ F8 ?: s
14. 在上升时间小于1 ns的系统中,不要使用轴向引脚电阻,应使用SMT电阻幷使其回路电感少。
( W" `/ y8 m. K# E/ O
15. 当上升时间小于150 ps时,尽量减小终端SMT电阻的回路电感,或者采用集成电阻以及嵌入式电阻。
: D/ ~4 |; C2 S) Q# C
16. 过孔通常呈现容性,减少捕获焊盘和增加反焊盘出砂孔的直径可以减少过孔的影响。
8 Y r; c1 y# u& D, y8 l' ?
17. 可以考虑给低成本线接头的焊盘添加一个小电容来补偿它的高电感。
; ?$ L! d5 e) p- k- x# v& M
18. 在布线时,使所有差分对的差分阻抗为一常量。
) S$ w, K9 Q, i& A
19. 在差分对中尽量避免不对称性,所有布线都应该如此。
( x. n; D4 J; u! X9 e
20. 如果差分对中的线距发生改变,也应该调整线宽来保持差分阻抗不变。
. t% G9 v# X2 x1 e4 v" ~; p' @
21. 如果在差分对的一根线上添加一根时延线,则应添加到布线的起始端附近,幷且要将这一区域内的线条间进行去耦合。
3 K+ F4 `2 {4 J, z
22. 只要能保持差分阻抗不变,我们可以改变差分对的耦合状态。
# I) ^) w; @: {9 J* e6 j: H7 o
23. 一般来说,在实际中应尽量使差分对紧耦合。
e% G1 o% `- E/ ?+ D/ _
24. 在决定到底采用边缘耦合差分还是侧向耦合差分对时,应考虑布线的密度 电路板的厚度等制约条件,以及销售厂家对叠层厚度的控制能力。如果做得比较好,他们是等效的。
7 H& j' j. b! v% e& o2 x
25. 对于所有板级差分对,平面上存在很大的返回电流,所以要尽量避免返回路径中的所有突变。如果有突变,对差分对中的每条线要做同样的处理。
- l; U6 ~1 a0 C4 j( ~0 _
26. 如果接收器的共模抑制比很低,就要考虑端接共模信号。端接共模信号幷不能消除共模信号,只是减少振铃。
' F! A2 j9 c. r, o g
27. 如果损耗很重要,应尽量用宽的信号线,不要使用小于5mil的布线。
8 L9 Q5 o6 B0 _# ?
28. 如果损耗很重要,应使布线尽量短。
0 G) c- ~/ K4 E+ [; o5 A: @9 [
29. 如果损耗很重要,尽量做到使容性突变化。
% F2 Z$ F" q, ?* s
30. 如果损耗很重要,实际信号过孔使其具有50 ohm的阻抗,这样做意味着可以尽可能减少桶壁尺寸 减小捕获焊盘尺寸 增加反焊盘出砂孔德尺寸。
% Z& e8 p; n' U, G
31. 如果损耗很重要,尽可能使用低损耗因子的叠层。
, [& f0 \- i3 l& h$ W* h
32. 如果损耗很重要,考虑采用预加重合均衡化措施。
. L( ^3 G: W$ U1 v% v3 |
No.2串扰化
+ n6 u8 T2 Y) u* L, E1 y% q3 H' w
策略---减少信号路径和返回路径间的互容和互感。
1 f2 |( J' H7 v# \7 P4 W, v5 I. m
设计原则:
6 v) J2 s9 @7 N3 y& O
33. 对于微带线或带状线来说,保持相邻信号路径的间距至少为线宽的2倍。
- l/ N4 j1 d4 B6 @. j
34. 使返回路径中的信号可能经过的突变化。
2 x m! X/ H0 a. l
35. 如果在返回路径中必须跨越间隙,则只能使用差分对。决不能用离得很近的单端信号布线跨越间隙。
! i1 K' R5 n5 E
36. 对于表面线条来说,使耦合长度尽可能短,幷使用厚的阻焊层来减少远程串扰。
/ X1 y, v) V, i9 l, \- T# O
37. 若远程串扰很严重,在表面线条上添加一层厚的叠层,使其成为嵌入式微带线。
7 Y: |1 D0 v# ~; F
38. 对于远程串扰很严重的耦合长度很长的传输线,采用带状线布线。
0 a" _& T6 W0 b D% P% c
39. 若不能使耦合长度短于饱和长度,则不用考虑减少耦合长度,因为减少耦合长度对于近端串扰没有任何改善。
w- d+ @! m, {3 V
40. 尽可能使用介电常数的叠层介质材料,这样做可以在给定特性阻抗的情况下,使得信号路径与返回路径间的介质厚度保持。
; k c. s9 K; x. |# v- A
41. 在紧耦合微带线总线中,使线间距至少在线宽的2倍以上,或者把对时序敏感的信号线布成带状线,这样可以减少确定性抖动。
# V- s+ m2 u5 Y* [& s- l
42. 若要求隔离度超过-60dB,应使用带有防护布线的带状线。
/ J$ Z9 ~# y" v( c8 G1 I
43. 一般使用2D场求解工具来估计是否需要使用防护布线。
' [( e4 W1 q( [ U+ `
44. 若使用防护布线,尽量使其达到满足要求的宽度,幷用过孔使防护线与返回路径短接。如果允许,可以沿着防护线增加一些短接过孔,这些过孔幷不像两端的过孔那样重要,但有一定改善。
& G) U8 Q# q+ U$ B
45. 使封装或
接插件
的返回路径尽量短,这样可以减小地弹。
' q& U6 v5 t; q# S3 r
46. 使用片级封装而不使用更大的封装。
2 l0 P* O2 @6 t; a
47. 使电源平面和返回平面尽量接近,可减少电源返回路径的地弹噪声。
. E" K: a/ O0 l# R" e4 [- A
48. 使信号路径与返回路径尽量接近,幷同时与系统阻抗相匹配,可以减少信号路径中的地弹。
- |! h4 w6 A2 J2 a- r3 Q, L7 ~
49. 避免在接插件和封装中使用公用返回路径。
* _+ ?- c. J2 I, S. L
50. 当在封装或线接头中分配引线时,应把短的引线作为地路径,并使电源引线和地引线均匀分布在信号线的周围,或者使其尽量接近载有大量
开关
电流的信号线。
, n$ F# w, _ y# a. P/ s
51. 所有空引线或引脚都应接地。
B8 ~' g B; ]' H+ o! ]/ T6 J- ~" S1 o
52. 如果每个电阻都没有独立的返回路径,应避免使用单列直插封装电阻排。
( A8 \: u, b6 f3 `0 R' c9 i
53. 检查镀层以确认阻焊盘在过孔面上不存在交叠;在电源和地平面对应的出砂孔之间都留有足够的空间。
2 W- p7 l8 f6 k4 U7 f
54. 如果信号改变参考平面,则参考平面应尽量靠近信号平面。如果使用去耦
电容器
来减少返回路径的阻抗,它的电容器幷不时重要的,应选取和设计具有回路电感的电容才是关键。
6 V0 }, j: t( B$ t7 @; Q# S3 V+ s/ O
55. 如果有大量信号线切换参考平面,就要使这些信号线的过孔彼此之间尽量远离,而不是使其集中在同一地方。
' o, s7 F# n+ i5 w$ t$ e! }
56. 如果有信号切换参考平面,幷且这些平面间具有相同电压,则尽量将信号线过孔与返回路径过孔数量放置在一起。
. o1 x. ]" u: ~5 i4 G1 q
No.3减小轨道塌陷
# l) @! Z! ~- z8 c& C# J
策略---减小电源分配网络的阻抗。
1 L" U! Q3 L Y% D* r7 J# Q
设计原则:
8 v7 q8 w5 {( I7 b
57. 减小电源和地路径间的回路电感。
' ^, @& a* l5 f. r% I4 \ t; P
58. 使电源平面和地平面相邻幷尽量靠近。
l+ }# y5 i* n
59. 在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗。
: y( d3 E3 T/ Q
60. 尽量使用多个成对的电源平面和地平面。
6 D4 z1 V j2 E( q
61. 使同向电流相隔尽量远,而反向电流相隔尽量近。
8 V% X, ~8 o2 G. R# V9 |$ I% t# s
62. 在实际应用中,使电源过孔和地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当。
2 l6 X/ h9 q2 x# ~% x1 M
63. 应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处。
3 G9 |2 ^# ^1 S$ J5 l1 g+ Z& H
64. 对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远。
4 S h8 t/ a0 r# R3 g
65. 在电源平面或地平面上布线时,应使过孔的直径尽量大。
% @" T' c0 l7 h
66. 在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减少键合线的回路电感。
# G g- H/ I; N/ `) i! |
67. 从芯片内部引出尽可能多的电源和地引线。
( S$ `, G* W4 Z$ v6 `% S3 G1 B! i, z
68. 在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚。
& \$ y5 m+ f* {- I
69. 使用尽可能短的片内互联方法,例如倒装芯片而不是键合线。
. ]0 H6 p7 Z! `8 C. W& a7 L
70. 封装的引线尽可能短,例如应使用片级封装而不是QFP封装。
/ ?5 I: ~2 |& p/ {
71. 使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能地短和宽。
7 R3 Q y# `" Z" C# v2 P7 [+ B$ c& p
72. 在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件。
0 E: u- I& O7 @8 A! n7 b+ F0 i" U# Q
73. 在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感。
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74. 使用尽可能小的去耦电容,幷尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度。
. m: h2 x1 o' w9 h' u3 K. j0 @
75. 在片子上使用尽可能多的去耦电容。
8 C) H6 U$ P8 l3 X+ H2 S
76. 在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容。
0 b- d' e, Z7 E! v( Y8 ?( f5 b5 [: J
77. 在I/O接口设计中使用差分对。
# F, w& h# u: h& c2 M/ L; R! Y L( g7 k
No.4减小电磁干扰(EMI)
& o+ W/ n; `! @* Q
策略---减小驱动共模电流的电压;增加共模电流路径的阻抗;屏蔽滤波是解决问题的快速方案。
) E7 n: x/ n7 A+ g: o4 p; K$ u
设计原则:
9 ^ f" E( m( g2 g+ L& l$ b7 G9 b' ]
78. 减小地弹。
+ _6 s+ H( M m4 Z& T
79. 使所有布线与板子边缘的距离应至少为线宽的5倍。
) z" p% u8 k( u) n8 N) p( j
80. 采用带状布线。
1 y3 ?4 Q* X) I1 [; \
81. 应将告诉或大电流器件放在离I/O接口尽可能远的地方。
0 n/ Z. G+ m, J: H5 ]$ ]4 w7 v
82. 在芯片附近放置去耦电容来减小平面中高频电流分量的扩频效应。
1 d1 _8 z ]- |+ I
83. 使电源平面和地平面相邻幷尽可能接近。
& d% F2 K [0 {: |2 q( |: w+ _
84. 尽可能使用更多的电源平面和地平面。
2 g' F! y& d! B: D6 z* j
85. 当使用多个电源平面和地平面对时,在电源平面中修凹壁幷在地平面的边沿处打断接过孔。
5 ~, l5 F0 A/ }( p* m3 v+ C
86. 尽量将地平面作为表面层。
, }6 e$ ]. q& S
87. 了解所有封装的谐振频率,当它与时钟频率的谐波发生重叠时就要改变封装的几何结构。
0 ]% [7 d% U1 p$ d$ j
88. 在封装中避免信号在不同电压平面的切换,因为这会产生封装谐振。
6 p! J" O5 Z5 ^& }8 }( x, g& V
89. 在封装中可能出现谐振,就在它的外部加上铁氧体滤波薄片。
4 x" X8 Q, S. q$ t/ R0 @- d
90. 在差分对中,减少布线的不对称性。
* {5 ?5 @( N. K8 e0 |- S4 x
91. 在所有的差分对接头处使用共模信号扼流
滤波器
。
/ |7 c2 ?2 c% u$ E" G
92. 在所有外部
电缆
周围使用共模信号扼流滤波器。
7 z' _. U1 S! v/ O
93. 选出所有的I/O线,在时序预算要求内使用上升时间少的信号。
) k7 `, d6 }# s d
94. 使用扩频时钟发生器在较宽的频率范围内产生谐波,幷在FFC测试的带宽范围内减少辐射能量。
) N6 H& q7 l( C2 V t7 A
95. 当连接屏蔽电缆时,保持屏蔽层与外壳良好接触。
b& Y; Y) c% O; Y0 v
96. 减少屏蔽电缆接头至外壳的电感。在电缆和外壳屏蔽层之间使用同轴接头。
' R0 f+ D4 d* [- Y" \3 L5 _ P+ k5 D& O
97. 设备支座不能破坏外壳的完整性。
) j( w1 D7 T3 p. C. t% F5 G
98. 只在互连时才能破坏外壳的完整性。
# F6 y: R2 j! `) l, Z/ E% \
99. 使开孔的直径远小于可能泄露的频率辐射的波长。使用数量多而直径小的开孔比数量少而直径大的开孔要好。
/ k: R; X( h! D( L& c
100. 导致产品交期Delay就是昂贵的规则。
: a5 a% P" [) A; K( \1 z
Eric Bogatin,于1976年获麻省理工大学物理学士学位,并于1980年获亚利桑那大学物理硕士和博士学位。目前是GigaTest实验室的首席技术主管。多年来,他在信号完整性领域,包括基本原理、测量技术和分析工具等方面举办过许多短期课程,培训过4000多工程师,在信号完整性、互连设计、封装技术等领域已经发表了100多篇技术论文、专栏文章和专着。
8 S6 H# |! \; u, D4 f
& Y6 U/ L& M' p# j5 {& k _1 l
" K0 q7 T5 l4 B8 o& T: M3 n i
) v! D# y1 y+ n/ t) t Z$ n: M
" T2 k$ d v2 I
作者:
wuke8
时间:
2020-8-10 16:09
使用可控之阻抗布线。
作者:
clp783
时间:
2020-9-4 17:08
导致产品交期Delay就是昂贵的规则
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