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标题:
基于MSP430单片机畿晶化监控 系统设计与实现
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作者:
ByGrith4
时间:
2020-3-27 09:33
标题:
基于MSP430单片机畿晶化监控 系统设计与实现
摘要:针对非晶材料晶化过程的电特性,提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案，
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介绍了监控系统硬件和软件设计,并具体设计了以MSP430单片机为核心的智能温度控制和电阻
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率测试装置。试验结果表明该系统既提高了控制精度和可靠性,降低了开发成本,又能准确及时地
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实现非晶材料晶化过程电特性的在线动态研究。
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关键词:晶化监控;组合自校正; MSP430
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引言
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非晶材料具有超高强度和- -定的韧性，而且价
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格低廉，具有广阔的应用前景,是有色金属新材料的
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研发方向之一。由于非晶材料在晶化过程中表现出
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明显的电特性,而电特性是表征晶化过程晶核组织
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结构的一项重要指标,所以通过电阻率与温度的关.
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系来研究非晶材料的晶化动力学过程，是- -种实用
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有效的方法。为完成对非晶材料晶化过程电特性测
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试,即电阻率在晶化突变点及亚稳相各特征点的测
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试,需要对晶化过程的温度进行精确控制，而且需要
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依据不同的材料样品对温度进行灵活设置,所以需
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要设计出一个通用的温度控制器。基于此该文提出
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了非晶材料晶化过程温度控制和电阻率测试的设计
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方案,并具体设计了以MSP430单片机为核心的智
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能温度控制和电阻率测试装置。同时采用
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MSP430F413单片机定时器实现信号采样和PWM
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控制,不仅降低了开发成本,而且为非晶材料晶化过
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程电特性的研究提供了实时有效的途径。
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1监控系统组成
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系统由上位机和下位机两部分组成:上位机为
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附件下载：
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作者:
Racheler
时间:
2020-3-27 09:54
采用MSP430F413单片机定时器实现信号采样和控制,降低了开发成本
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